50
тельно ниже критической (t=2.0), фазовый переход оказывается
размытым. При
µ
=-4,91 система устойчиво со храняет низкую кон-
центрацию со средним значением с
≅
0,207, тог да как при
µ
=-4,88
средняя концентрация равна 0,837. При
µ
=-4,89 и
µ
=-4,90 концен-
трация частиц в системе в основном близка к одному из указан-
ных средних значений. Однако при
µ
=-4,91 и
µ
=-4,88 флуктуации
числа частиц велики по сравнению с их значениями вдали от ли-
ний фазового перехода. В больших системах столь значительных
флуктуаций не наблюдается.
Результаты моделирования системы при m=33, т.е. при усло-
вии, что подрешетка нейтрализующего фона охватывает модели-
руемую систему, представлены на рис. 1, b. Качественное поведе-
ние изотерм химическ ого потенциала и флуктуаций числа частиц
ос тается таким же, как и при m=31, но критическая температура
(t
c
=0,84) и соответствующий ей химический потенциал уменьши-
лись почти в три раза. Столь существенное изменение термодина-
миче ских парамет ров критической точки вызвано значительно
менее ярко выраженным изменением неоднородности крист алли-
ческого потенциала в узлах основной решетки. Причина состоит
в изменении поляризации периферийной области системы.
Поле U
i
входит в гамильтониан (1) с отрицательным знаком,
и его неоднородность создает тенденцию частицам на основной
решетке располагаться ближе к центру ячейки. На рис. 2 показано
отношение значений крист аллического потенциала в узлах вдоль
диагонали и вдоль линии, проходящей через центр ячейки моде-
лирования параллельно ее ребру, к его значению в центре ячейки
при m=31 и m=33. Вместе с тем взаимное отталкивание частиц
системы обусловливает противоположную тенденцию . В ре зуль-
тате вблизи границ ячейки создается неоднородное и чувствитель-
ное к термодинамическим условиям распределение плотности
числа частиц, приводящее к возникновению поля, воздействую -
щего на частицы центральной зоны.
На этом же рисунке представлены результаты моделирова-
ния распределения плотности числа частиц. Хотя кристалличес-
кий потенциал фактически изменяется во всей области моделиро-
вания, глубина приграничной неоднородной зоны при не слишком
малых или больших концентрациях составляет 2 — 3 слоя и во
всей остальной области частицы распределены практически рав-
номерно, несмотря на существенную неоднородность кристалли-
ческого поля. Более того, при m=31 наблюдается избыток частиц
в периферийной области ячейки, что свидетельствует о более силь-