170
гальванопластикой или нанесением покрытий на пластмассовые отпечатки.
Наборы или отдельные образцы имеют прямолинейные, дугообразные или
перекрещивающиеся дугообразные расположения неровности поверхности.
На каждом образце указаны значение параметра Ra (в мкм) и вид обработки
образца. Визуально можно удовлетворительно оценить поверхности с
Ra=0,6…0,8 мкм и более.
Стандартные образцы должны быть изготовлены из тех же материалов,
из которых изготавливаются детали, подлежащие контролю.
9.4. Оптические средства измерения шероховатости
Для измерения шероховатости оптическим способом применяют
приборы светового сечения типа МИС-11 и ПСС-2, микроинтерферометры
типа МИИ-4, МИИ-9, МИИ-11, МИИ-12, растровые измерительные
микроскопы типа ОРИМ-1 и др. При выборе метода и типа прибора
необходимо учитывать возможность контроля предписанного чертежом
параметра,
пределы измерения, допускаемые отклонения контролируемого
параметра, погрешность измерения и прибора, форму, размеры и материал
детали и другие факторы.
Наибольшее распространение из бесконтактных методов получили
методы светового сечения, теневой проекции, метод с применением растров,
микроинтерфереционные методы.
Принципиальная схема метода светового сечения приведена на рис.
9.3, а. Луч света от источника 1 через узкую
щель 2 и объектив 3 первого
(проектирующего) микроскопа проектируется на измеряемую поверхность,
которая имеет микронеровности высотой
h. В поле зрения второго
микроскопа, ось которого расположена под углом 90
0
к оси проектирующего
микроскопа, изображение щели будет иметь вид световой ступеньки, т. к. от
измеряемой поверхности отражаются два луча (от верхней и нижней частей
шероховатости). Эти лучи через объектив 4 и пластину со шкалой 5
попадают в окуляр 6. Размер световой ступеньки в окуляре служит мерой
высоты неровности
h.
Принцип теневой проекции представляет собой видоизмененный
принцип светового сечения, в котором граница между светом и тенью
создается острием ножа.
Сущность растрового метода измерения шероховатости поверхности
состоит в том, что измеряемая поверхность рассматривается в микроскоп и
одновременно на изображение поверхности накладывается муаровая
картина, получаемая в результате переналожения штрихов исходного и
рабочего
растров. По искривлениям муаровых полос в зависимости от
шероховатости поверхности судят о величине неровности.
При микроинтерференционном методе измерения шероховатости
измеряемая поверхность рассматривается в микроскоп и одновременно на
изображение поверхности накладываются интерференционные полосы,