Лабораторный практикум. М.: МИФИ, 2008. 48 с. Распознано
В пособии приведено описание устройства, программного обеспечения и порядка работы на сканирующем мультимикроскопе СММ-2000 в режиме туннельной микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. На конкретном примере рассмотрены возможности анализа изображения с целью определения шероховатости поверхности и исследования морфологических особенностей структурно-фазовых составляющих образца. Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы.
Предназначено для студентов МИФИ, обучающихся по специальностям «Физика металлов» и «Физика конденсированного состояния». Используется в дисциплинах «Наноматериалы и нанотехнологии» и «Физические методы исследований».
Содержание (5 глав):
Цель работы
Конструкция микроскопа СММ-2000
Подготовка микроскопа к работе
Закрепление и обновление СТМ-иглы
Крепление образца
Установка СТМ-столика
Включение и настройка СТМ-режима
Выбор области сканирования
Выбор параметров сканирования
Подвод иглы к образцу
Получение изображения
Сканирование кадра и настройка параметров сканирования
Изменение размера кадра
Сканирование с перезапуском и вторым кадром
Анализ изображений
Выход из режима сканирования и выключение
Пример исследования методом сканирующей туннельной микроскопии:пленка из TIN
Порядок выполнения работы
Контрольные вопросы
Вопросы входного контроля
Вопросы выходного контроля
Список рекомендуемой литературы
В пособии приведено описание устройства, программного обеспечения и порядка работы на сканирующем мультимикроскопе СММ-2000 в режиме туннельной микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. На конкретном примере рассмотрены возможности анализа изображения с целью определения шероховатости поверхности и исследования морфологических особенностей структурно-фазовых составляющих образца. Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы.
Предназначено для студентов МИФИ, обучающихся по специальностям «Физика металлов» и «Физика конденсированного состояния». Используется в дисциплинах «Наноматериалы и нанотехнологии» и «Физические методы исследований».
Содержание (5 глав):
Цель работы
Конструкция микроскопа СММ-2000
Подготовка микроскопа к работе
Закрепление и обновление СТМ-иглы
Крепление образца
Установка СТМ-столика
Включение и настройка СТМ-режима
Выбор области сканирования
Выбор параметров сканирования
Подвод иглы к образцу
Получение изображения
Сканирование кадра и настройка параметров сканирования
Изменение размера кадра
Сканирование с перезапуском и вторым кадром
Анализ изображений
Выход из режима сканирования и выключение
Пример исследования методом сканирующей туннельной микроскопии:пленка из TIN
Порядок выполнения работы
Контрольные вопросы
Вопросы входного контроля
Вопросы выходного контроля
Список рекомендуемой литературы