Микроскопия

Пер. с 3-го нем. изд. 1955 г. – М.: Медгиз, 1959. – 426 с. Основы микроскопической оптики Основные сведения об объективе и окуляре Микроскоп может обманывать. Исследование уве-личительной оптики Источники света для микроскопии Микроскопия в проходящем свете по методу светлого поля Микроскопия, в проходящем свете по методу темного поля и ультрамикроскопия Микроскопия в падающем свете при исследованиях по методам светлого и темного полей Микроскоп...

Москва-Ижевск: R&C Dynamics, 2010, 196 с. ISBN 978-5-93972-811-9. Мaгнитно-резонансная силовая микроскопия (МРСМ) - быстро развивающаяся область, которая зародилась в 1990-e гoды и не так давно достигла зрелости, объявив о первой регистрации спина единичногo электрона, находящегoся внутри непрозрачногo твердогo вещества. Дальнейшее развитие методов МРСМ окажет oгpoмнoe влияние на многие отрасли науки и техники, включающие физику, химию, биол...

М.: Знание, 1988. - 64 с. В сборник включены переводы лекций нобелевских лауреатов 1986 года: Герда Биннига, Генриха Рорера и Эрнста Руски, посвященные созданию электронного микроскопа и изобретению нового класса микроскопов - сканирующего туннельного микроскопа.

Статья. Успехи физических наук, Том 154, Вып. 2 - 1988. февраль. - сс. 261-278 Герд Бинниг и Генрих Рорер — сотрудники Исследовательского отдела фирмы IBM, Цюрихская научная лаборатория, Рюмликон, Швейцария. Мы хотим изложить историю развития сканирующей туннельной микроскопии.

Статья. Опубликована в Успехах Физических Наук (Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН) - 1987 г. Май. - Том 152, вып. 1 - с. 75-122 УДК 537.533.35 Электронно микроскопическое изображение. Рассеяние электронов объектом. Кинематическое приближение. Дифракция от кристалла. Функция прохождения. Изображение. Фазовый и амплитудный контраст. Передаточная функция. Светлопольное изображение. Темнопольное изображение. Микродифракция. Просве...

Учебно-методическое пособие. М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. – 168 с. : ил. (Библиотека «Наноинженерия» : в 17 кн. Кн. 11). Методические материалы по дисциплине «Электронная микроскопия» содержат нормативную базу дисциплины, рекомендации по организации и проведению лекций, практических занятий, семинаров, лабораторных работ и деловых игр, перечень учебных видео- и аудиоматериалов, слай- дов, типовых плакатов и другие дидактические мате...

М: Мир, 1978, 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков...

М.: Мир, 1984. - 303 с. В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектром...

349 с. 1984 г. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов и т. д. Книга представляет интерес для физиков, химиков, материал...

Электронное издательство Аналитическая микроскопия, 2003. - 47 с. Небольшое по объему пособие по световым микроскопам предназначено для первого знакомства с оптическими микроскопами. Профессиональная работа на микроскопах требует прежде всего знаний в области одного из сложных разделов физики – геометрической и физической оптики и инженерных знаний в области точных механических устройств. В сочетании со знаниями в области биологии клетки читателю...

Лабораторный практикум. М.: МИФИ, 2008. 48 с. Распознано В пособии приведено описание устройства, программного обеспечения и порядка работы на сканирующем мультимикроскопе СММ-2000 в режиме туннельной микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. На конкретном примере рассмотрены возможности анализа изображения с целью определения шероховатости поверхности и исследов...

Москва : НИЯУ МИФИ, 2011. — 64 c. Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой на- стройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений...

Учебное пособие. - М.: Издательство МФТИ, 2011. - 144 с. Целью данного пособия является ознакомление основными методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, устройством и принципом работы микроскопов и формированием изображении электронно-оптической системой. Читатели ознакомятся со способами интерпретации изображений, спектров характеристического рентгеновского излучения, спектров катодолюминесценции, расшифровки картин дифракции...

Лабораторная работа, выполняется на сканирующем зондовом микроскопе Nano Educator Цели работы: 1. Изучение основ сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии; 2. Изучение принципов работы датчика туннельного тока в приборе NanoEducator измерение его основных параметров. 3. Получение топографии поверхности исследуемого образца в режиме постоянно туннельного тока.

Учебное пособие. — М.: МИФИ, 2007. — 48 с. Распознано. В практикуме представлены теоретические основы просвечивающей электронной микроскопии в рамках лекционного курса «Электронная микроскопия» и методические указания при выполнении практических заданий по изучению структуры твердых тел. Пособие рекомендуется студентам старших курсов, обучающихся по специальности «Физика твердого тела и конденсированного состояния» и также студентам по другим см...

М.: Техносфера, 2007. — 375 с. — ISBN 978-5-94836-121-5 За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В кни...

Автореферат диссертации на … кандидата сельскохозяйственных наук. Спб, 2009. – 21 с. Цель исследования состояла в адаптации оптической счётной микроскопии для определения гранулометрического состава почв. Новизна и научная значимость работы заключается в том, что в ней впервые показаны адаптивные требования к методу оптической счётной микроскопии в ее стандартном приборном исполнении для определения гранулометрического состава почв. Основными пол...

БГТУ, 2008, 31 стр. Введение Электронно-микроскопический метод исследования Физические основы растровой электронной микроскопии Разновидности растрового электронного микроскопа Схема растрового электронного микроскопа, назначение его узлов и их функционирование Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним Технические возможности растрового электронного микроскоп Современные виды РЭМ Заключение Список литературы

БГТУ, 2008, 40 стр Введение Историческая справка Принципы работы сканирующего зондового микроскопа Сканирующие элементы (сканеры) зондовых Сканирующие элементы Нелинейность пьезокерамики Крип пьезокерамики и гистерезис пьезокерамики Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца Механические редукторы Шаговые электродвигатели Шаговые пьезодвигатели Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий Защита от вибраций Защита от акустиче...

Автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук. - Москва, МГУ им. М.В. Ломоносова, 2009. - 26 с. Специальность 02.00.06 – высокомолекулярные соединения 01.04.01 – приборы и методы экспериментальной физики Основным актуальным аспектом работы является изучение структуры тонких пленок блок-сополимеров, поскольку их использование предоставляет широкие возможности для развития современных технологий. Большой...

М., Техносфера 2005 г. 144 стр. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силов...

Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. Российская академия наук, Институт физики микроструктур - г. Нижний Новгород, 2004 г. Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое...

М.: «Наука», 1980 г. , 220 стр. Монография отражает новейшие достижения полевой ионной (автоионной) микроскопии - единственной методики, обеспечивающей прямое наблюдение атомов поверхности твердого тела. Впервые подробно описан атомный зонд — прибор, позволяющий определять химическую природу и пространственное положение любого из атомов образца. Рассмотрены явления полевой ионизации, полевого испарения, лежащие в основе работы полевого ионного ми...

М.: издательство МФТИ, 2003.- 40 с. Данная лабораторная работа направлена на ознакомление студентов с физическими принципами функционирования растрового электронного микроскопа (РЭМ) и основными методиками измерения. Экспериментальная часть работы заключается в изучении растрового электронного микроскопа Jeol JSM-840, в том числе: ? получение изображения образца в различных режимах работы микроскопа: в режиме сбора истинно вторичных электронов...

Москва, Техносфера, 2005. - 304 с. С появлением микроскопа открылась возможность увидеть «невидимое», а с появлением видеокамер и компьютера стало возможным зафиксировать полученные данные и проанализировать их с целью получения объективной количественной информации. В результате соединения этих составляющих был разработан новый прибор — анализатор изображений. За последние 10 лет анализаторы изображений получили широкое распространение в биологи...

Киев. «Техшка», 1976, 168 с. Изложены основные представления электронной геометрической оптики, рассмотрен принцип действия электростатических и электромагнитных электронных линз и основные виды их аберраций, а также конструкции линз и их взаимодействие в оптической системе электронных микроскопов просвечивающего типа. Особое внимание уделено практическим вопросам эксплуатации электронных микроскопов: наладке, юстировке, проверке разрешающей спо...

Лабораторная работа, выполняется на сканирующем зондовом микроскопе Nano Educator Цели работы: 1. Изучение основ сканирующей зондовой микроскопии. 2. Изучение конструкции и принципов работы прибора NanoEducator. 3. Получение первого СЗМ изображения. 4. Получение навыков обработки и представления экспериментальных результатов.

Учебник. М.: Изд. Техносфера, 2006. - 256 с. Монография посвящена особенностям конструкции совре­менных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго­дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроско­пии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изобра­жений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (1Р-системам), ус...

М., Техносфера 2006 г. , 255 стр. Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам: на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых...

Презентация для студентов по теме "Сканирующая тунельная микроскопия" , 7 стр. Ивановский Государственный Университет. По специальности: 010701.65 – «Физика», 5 курс

Ленинград «Машиностроение» 1969, 512с. В книге описаны геометрическая теория микроскопа и волновая теория образования в нем изображения. Приведены принципиальные оптические схемы различных типов микроскопов, рекомендации по выбору объектива и окуляра для визуального наблюдения и микрофотографирования; рассмотрены вопросы освещенности изображения и потери света в микроскопах; основные типы источников и приемников излучения, применяемых в микроско...

Пер. с англ./Под ред. В.Н. Рожанского. М., Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит. 1986. - 320 с. Изложены теоретические и экспериментальные аспекты электронной микроскопии высокого разрешения. Рассмотрены физические основы формирования электронно-микроскопического изображения как периодических (кристаллические структуры), так и непериодических (отдельные молекулы и атомы) объектов, и влияние различных факторов на его разрешение. Для научных сотрудников,...

- Москва, - ИАЭ, - 1991, – 156 стр. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Специальность: 01.04.16 - физика атомного ядра и елементарних частиц. (На правах рукописи). Научный руководитель: Содержание. Современное состояние проблемы формирования и регистрации нейтронного изображения. Элементы оптики УХН. Оптические элементы для фокусировки нейтронов. Роль гравитационного поля Земли. Сложные ахроматизированн...

М.: Наука, 1983. - 320 с. Книга известных зарубежных ученых Г. Томаса и М.Дж. Горинджа посвящена исследованию материалов методом просвечивающей электронной микроскопии. На основе новейших экспериментальных и теоретических данных изложены физические основы электронной микроскопии и дифракции электронов, теории контраста и динамической теории дифракции в применении к исследованию различных материалов, данные о реальной структуре кристаллов и матер...

Навч. посібник, Львів : ЛНУ імені Івана Франка, 2012. – 296 с. Зміст Список скорочень Передмова Вступ Основні поняття оптичної та електронної мікроскопії Методи формування зображення Пікселі Оптичний мікроскоп Збільшення Розділення Глибина поля і глибина фокуса Аберації оптичних систем Світло та електрони Контрольні запитання і завдання Взаємодія електронного пучка з речовиною Властивості електронів Генерування електронних пучків Відх...

Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2006. - 23 с. Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятиям по курсу «Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию автоэлектронной эмиссии из металлов и наноуглеродных материалов. Для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микро...

Диссертация. кандидата физико-математических наук ( 01.04.07. - физика конденсированного состояния). - Владивосток, 2006. - 166 с.: ил. Научная новизна работы. Работа содержит новые экспериментальные и методические результаты, наиболее важные из которых следующие: 1, Разработана методика определения плотности атомов кремния в верхнем атомном слое поверхностных структур. Определены условия, при которых данная методика дает результаты с минимальн...

Москва: Государственной издательство физико-математической литературы 1960 – 180 с. Книга посвящена использованию двух типов микроскопов - фазово-контрастному и интерференционному микроскопам.

М., "Мир", 1966. Электронная микроскопия является одним из мощных методов научного исследования и в настоящее время плодотворно применяется в физике, химии, биологии, технике. Предлагаемая книга извеетного американского физика Р. Хейденрайха посвящена теории просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии. В ней систематически изложены теоретические основы методов получения изображения кристаллических и аморфных объектов. Подробно рас...

Москва: Мир, 575 страниц; 1968 г. Данная книга представляет собой фундаментальную энциклопедическую монографию учебного характера, весьма полно освещающую основы теории и экспериментальную практику современной просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено теориям дифракции электронов и дифракционного контраста, интерпретации и...

М., Изд-во «МИР», 1972, 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава, динамики (в том числе количественной оценки) разнообразных процессов....

Springer, 2010, 250 p. Methodology: General Introduction Introduction to Materials The Different Observation Modes in Electron Microscopy (SEM, TEM, STEM) Materials Problems and Approaches for TEM and TEM/STEM Analyses Physical and Chemical Mechanisms of Preparation Techniques Artifacts in Transmission Electron Microscopy Selection of Preparation Techniques Based on Material Problems and TEM Analyses Comparisons of Techniques Conclusion: What Is...

Springer, 2010, 338 p. Techniques: General Introduction Preliminary Preparation Techniques Thinning Preparation Techniques Mechanical Preparation Techniques Replica Techniques Techniques Speci?c to Fine Particles Contrast Enhancement and Labeling Techniques

Wiley. 1951. 332 p. Introduction to Phase Microscopy An Elementary Theory of Phase Microscopy Instrumentation The Technics of Phase Microscopy Phase Microscopy in Biology and Medicine Industrial Applications of Phase Microscopy

CRC Press, 2003, 310p. Introduction Background History of Microscopy Scanning Probe Microscopes (SPMs) Scanning Tunneling Microscope (STM) Electron Tunneling Atomic Force Microscope (AFM) Modes of Operation of AFM Simultaneous AFM and Scanning Near-Field Fluorescence (SNOM and SNOM–AFM) Friction Force Microscopy (FFM) STM and AFM Studies under Fluids Sample Preparation Procedures for STM and AFM Calibration and Image Analysis of STM and AFM...

Wiley-VCH, 2010, 261p. Chirality at metal surfaces The template route to nanostructured model catalysts In situ STM studies of model catalysts Theory of scanning tunneling microscopy and applications in catalysis Characterization and modification of electrode surfaces by in situ STM STM imaging of oxide nanolayer model systems Surface mobility of atoms and molecules studied with high-pressure scanning tunneling microscopy Point defects on rutile...

Surface Science Reports 59 (2005) p.1–152 The atomic force microscope (AFM) is not only a tool to image the topography of solid surfaces at high resolution. It can also be used to measure force-versus-distance curves. Such curves, briefly called force curves, provide valuable information on local material properties such as elasticity, hardness, Hamaker constant, adhesion and surface charge densities. For this reason the measurement of force cur...

Elsevier Surface Science Reports 34 (1999) p.1-104 Atomic force microscopy (AFM) force-distance curves have become a fundamental tool in several fields of research, such as surface science, materials engineering, biochemistry and biology. Furthermore, they have great importance for the study of surface interactions from a theoretical point of view. Force-distance curves have been employed for the study of numerous materials properties and for t...

Springer, Heidelberg, 2011, 244 pages In the last decade, fluorescence microscopy has evolved from a classical retrospective microscopy approach into an advanced imaging technique that allows the observation of cellular activities in living cells with increased resolution and dimensions. A bright new future has arrived as the nano era has placed a whole new array of tools in the hands of biophysicists who are keen to go deeper into the intricaci...

Springer, 2009, 330p. Introduction Sample Collection and Selection Sample Preparation Tools Sample Support Sample Embedding and Mounting Sample Exposure Sample Dehydration Sample Stabilization for Imaging in the SEM. Sample Stabilization to Preserve Chemical Identity Sample Cleaning Sample Surface Charge Elimination Sample Artifacts and Damage Additional Sources of Information

Springer, 2005, 202p. Preface An Introduction to Microscopy Limitations of the Human Eye The Light-Optical Microscope The X-ray Microscope The Transmission Electron Microscope The Scanning Electron Microscope Scanning Transmission Electron Microscope Analytical Electron Microscopy Scanning-Probe Microscopes Electron Optics PropertiesofanIdealImage ImaginginLightOptics ImagingwithElectrons Focusing Properties of a Thin Magnetic Lens C...

Springer-Verlag, Berlin, 2011, 372 pages This book deals with the latest achievements in the field of optical coherent microscopy. While many other books exist on microscopy and imaging, this book provides a unique resource dedicated solely to this subject. Similarly, many books describe applications of holography, interferometry and speckle to metrology but do not focus on their use for microscopy. The coherent light microscopy reference provi...

Surface Science Reports 47 (2002) р.197–301 journal homepage: www.elsevier.com/locate/surfrep Данный доклад посвящен основам, применению и перспективам развития динамической атомно-силовой микроскопии. Рассмотрены полуконтактная и бесконтактная моды атомно-силовой микроскопии.

BIOS Scientific Publishers Limited, 2003, 151p. History Principles The energy-dispersive X-ray detector Spectral processing Energy-dispersive X-ray microanalysis in the scanning electron microscope X-ray microanalysis in the transmission electron microscope X-ray mapping Energy-dispersive X-ray analysis compared with other techniques Bibliography Index

Review of Modern Physics, volume 75, july 2003 p.1-35 This article reviews the progress of atomic force microscopy in ultrahigh vacuum, starting with its invention and covering most of the recent developments. Today, dynamic force microscopy allows us to image surfaces of conductors and insulators in vacuum with atomic resolution. The most widely used technique for atomic-resolution force microscopy in vacuum is frequency-modulation atomic force...

3 ed. , Kluwer, 2003, 689p. Introduction The SEM and Its Modes of Operation Electron Beam Specimen Interactions Image Formation and Interpretation Special Topics in Scanning Electron Microscopy Generation of X Rays in the SEM Specimen X-Ray Spectral Measurement: EDS and WDS Qualitative X-Ray Analysis Quantitative X-Ray Analysis: The Basics Special Topics in Electron Beam X-Ray Microanalysis Specimen Preparation of Hard Materials: Metals, C...

3d edition, Taylor&Francis, 2001, 265p. Microscopy with light and electrons Electrons and their interaction with the specimen Electron diffraction The transmission electron microscope The scanning electron microscope Chemical analysis in the electron microscope Electron microscopy and other techniques

Cambridge University Press, 2003, 718p. Basic crystallography Basic quantum mechanics, Bragg’s Law and other tools The transmission electron microscope Getting started Dynamical electron scattering in perfect crystals Two-beam theory in defect-free crystals Systematic row and zone axis orientations Defects in crystals Electron diffraction patterns Phase contrast microscopy

Springer. 2007. 1332 p. Volume 1 Imaging with Electrons Atomic Resolution Transmission Electron Microscopy Scanning Transmission Electron Microscopy Scanning Electron Mocroscopy Analytical Electron Microscopy Hiigh-Speed Electron Microscopy In Situ Transmission Electron Microscopy Cryoelectron Tomography (CET) LEEM and SPLEEM Photoemission Electron Microscopy (PEEM) Aberration Correction Volume II Imaging with Photons Two-Photon Excitation Fluore...

ThermoMicroscopes. 2000. p. 80 This booklet was written to help to learn about SPMs, a process that should begin with a thorough understanding of the basics. Issues covered in this booklet range from fundamental physics of SPMs to their practical capabilities and instrumentation. Examples of applications are included throughout the text, and several application-specific articles are listed at the end of each chapter.

Springer Science+Business Media, 2011, 237 pages Digital holography is an emerging field of new paradigm in general imaging applications. By replacing the photochemical procedures with electronic imaging and having a direct numerical access to the complex optical field, a wide range of new imaging capabilities become available, many of them difficult or infeasible in conventional holography. An increasing number of researchers—not only in optic...

Surface Science Reports 66 (2011) р.1–27 journal homepage: www.elsevier.com/locate/surfrep Kelvin probe force microscopy (KPFM) is a tool that enables nanometer-scale imaging of the surface potential on a broad range of materials. KPFM measurements require an understanding of both the details of the instruments and the physics of the measurements to obtain optimal results. The first part of this review will introduce the principles of KPFM and...

Springer; Berlin, 1 edition, 2008, 473 p. There are many books on electron microscopy, however, the study of polymers using EM necessitates special techniques, precautions and preparation methods, including ultramicrotomy. This book discusses the general characteristics of the various techniques of EM, including scanning force microscopy (AFM). The application of these techniques to the study of morphology and properties, particularly micromechan...

Humana Press. 1998. 429 p. An Introduction to Confocal Imaging Practical Considerations for Collecting Confocal Images Fluorescent Probes for Confocal Microscopy Imaging Gene Expression Using Antibody Probes Single and Double FISH Protocols for Drosophila Confocal Microscopy of Plant Cells Preparation of Yeast Cells for Confocal Microscopy Confocal Methods for Caenorhabditis elegans Imaging Sea Urchin Fertilization Imaging Immunolabeled Drosophi...

John Wiley & Sons, 2006, 368p. Introduction The Auger Process Instrumentation The Spatial Resolution Forming an Auger Image Image Processing and Interpretation Quanti?cation of Auger Images Applications: Materials Science Applications: Semiconductor Manufacturing Concluding Remarks

Published in the United States of America by Cambridge University Press, New York Second edition 2005 216 p. Electron microprobe analysis Scanning electron microscopy Geological applications of SEM and EMPA Related techniques Electron–specimen interactions Inelastic scattering Electron range Elastic scattering Secondary-electron emission X-ray production X-ray absorption The Auger effect and fluorescence yield Cathodolumin...

Springer, 2008, 602p. Introduction TransmissionElectronMicroscopy Alternative Types of Electron Microscopy Particle Optics of Electrons Acceleration and De?ection of Electrons ElectronLenses Lens Aberrations Correction of Aberrations and Microscope Alignment Wave Optics of Electrons ElectronWavesandPhaseShifts Fresnel and Fraunhofer Di?raction Wave-Optical Formulation of Imaging Elements of a Transmission Electron Microscope ElectronGuns The Illu...

Elsevier, Amsterdam, 1996, Pages: 463 One of the first books devoted entirely to the subject of Raman microscopy, this volume addresses issues of great interest to engineers working in Raman-microscope development and researchers concerned with areas ofapplication for this science. The book is written by several world recognized experts, who summarize the Raman effect before discussing the hardware and software involved in todays instruments. Th...

Cambridge University Press, 1996, 436 p. Symbols and definitions Kinematical electron diffraction Reflection high-energy electron diffraction Dynamical theories of RHEED Resonance reflections in RHEED Imaging surfaces in TEM Contrast mechanisms of reflected electron imaging Applications of UHV REM Applications of non-UHV REM Phonon scattering in RHEED Valence excitation in RHEED Atomic inner shell excitations in RHEED Novel techniques associated...

2nd ed. , Springer, 2009. - 832 p. = BASICS The Transmission Electron Microscope Scattering and Diffraction Elastic Scattering Inelastic Scattering and Beam Damage Electron Sources Lenses, Apertures, and Resolution How to ‘See’ Electrons Pumps and Holders The Instrument Specimen Preparation = DIFFRACTION Diffraction in TEM Thinking in Reciprocal Space Diffracted Beams Dispersion Surfaces Diffraction from Crystals Diffraction from Small Volumes...

1996, 1-173 p. Первая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single volum...

1996, 177-347 p. Вторая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single vol...

1996, 349-550 p. Третья часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single vol...

1996, 553-720 p. Четвертая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single...