Похожие разделы

Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М. Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов

  • формат pdf
  • размер 5,82 МБ
  • добавлен 29 октября 2013 г.
М.: Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1986.— (Проблемы науки и технического прогресса).—96 с. Изложены основные идеи физики дифракции рентгеновских лучей, направленные на создание методов анализа кристаллической структуры тончайших приповерхностных слоев и границ раздела кристаллов высокой степени совершенства, в первую очередь полупроводниковых кристаллов, являющихся основой современной микроэлектроники.

Блохин М.А. Физика рентгеновских лучей

  • формат djvu
  • размер 13,42 МБ
  • добавлен 08 января 2013 г.
М.: Государственное издательство технико-теоретической литературы , 1957. — 518 с. В предлагаемой книге изложены общие основы физики рентгеновских лучей, необходимые для дальнейшего изучения специальных вопросов применения рентгеновских лучей в науке и технике: рентгеноструктурного анализа, рентгеноспектрального анализа, технического просвечивания и др. Кроме того, более подробно изложены работы по тонкой структуре рентгеновских спектров, так как...

Бокий Г.Б., Порай-Кошиц М.Л. Практический курс рентгеноструктурного анализа

  • формат pdf
  • размер 17.5 МБ
  • добавлен 05 мая 2012 г.
Москва: Издательство Московского университета, 1951. - 430 с. Предназначается в качестве учебного пособия для высших учебных заведений Теория структуры кристаллов Е. С. Федорова Рентгеновские лучи и кристаллы Сканированная копия, разрешение скана - 300dpi, цветность - черно-белая

Вайнштейн Б.К. Структурная электронография

  • формат djvu
  • размер 10.05 МБ
  • добавлен 08 августа 2010 г.
М: Изд-во АН СССР, 1956, 342с Наряду с классическим методом анализа атомной структуры кристаллов — рентгенографией — все большее значение приобретают в настоящее время другие диффракционные методы: электронография и нейтронография. При помощи электронографического метода могут решаться как некоторые общие вопросы структурного анализа, доступные двум другим методам, так и специальные задачи, рентгенографическое (или нейтроиографическое) изучение к...

Васичев Б.Н. Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок

  • формат djvu
  • размер 3,60 МБ
  • добавлен 13 июля 2013 г.
М.: «Металлургия», 1977. — 240 с. Рассмотрена методика локального микроанализа элементного состава тонких объектов (пленок) и идентификации микрофаз вещества по характеристическим рентгеновским спектрам. Этот метод позволяет проводить комплексное изучение электронномикроскопических объектов и в настоящее время выделился в самостоятельное направление — электронно-зондовый микроанализ тонких пленок. Область применения метода весьма широка и разнооб...

Гинье А. Рентгенография кристаллов. Теория и практика

  • формат djvu
  • размер 10.16 МБ
  • добавлен 03 апреля 2010 г.
Перевод с французского Е. Н. Беловой, С. С. Квитки, В. П. Тарасовой под редакцией академика Н. В. Белова` М. Наука 1961г. 604 с. Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку для рентгеновского излучения. В настоящей книге, написанной выдающимся францу...

Горелик С. С, Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ

  • формат pdf
  • размер 38,97 МБ
  • добавлен 11 июня 2013 г.
М.: Изд-во «Металлургия», 2-е изд., 1970. — 366 с. Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояснения и изложен порядок выполнения задач. В приложении дан необходимый справочный...

Горелик С. С, Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ

  • формат djvu
  • размер 16.62 МБ
  • добавлен 07 августа 2010 г.
Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСИС-, 1994. —328 с. В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу, текстурному анализу и спектроскопии, анализу пленочных материалов с учетом нов...

Горшков О.Н., Михайлов А.Н., Васильев В.К. Применение методов резерфордовского обратного рассеяния ионов и ионно-индуцированного рентгеновского излучения для анализа элементного состава и структурного совершенства твердых тел

  • формат pdf
  • размер 2,07 МБ
  • добавлен 17 ноября 2013 г.
Учеб. метод. пособие. — Н. Новгород: Изд-во ННГУ, 2007. — 59 с. Рассмотрены методы исследования элементного состава и структуры твердых тел, основанные на резерфордовском обратном рассеянии быстрых заряженных частиц и анализе ионно-индуцированного характеристического рентгеновского излучения. Кратко изложены физические явления, лежащие в основе указанных методов исследования, наиболее часто применяемых при разработке новых материалов электроники;...

Даценко Л.И., Молодкин В.Б., Осиновский М.Е. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей реальными кристаллами

  • формат djvu
  • размер 6,11 МБ
  • добавлен 21 апреля 2013 г.
Киев : Наукова думка, 1988 —200 с. —ISBN 5-12-009296-9 Ил. 44, Табл. 1, Библиогр.: с. 185—196 (208 назв.). В монографии изложены основы теории и результаты экспериментального исследования динамического рассеяния рентгеновских лучей в монокристаллах, содержащих однородно распределенные дефекты, и обсуждены возможности использования этих результатов для создания новых высокоинформативных количественных методов определения характеристик дефектов и с...

Иванов А.Н. Дифракционные методы исследования материалов

  • формат pdf
  • размер 3.87 МБ
  • добавлен 12 декабря 2011 г.
Москва. МИСИС. 2008. 99 стр. Конспект лекций по спецкурсу Физика металлов. Рентгеновская техника Анализ субструктуры по ширине, профилю и интенсивности рентгеновских линий Некоторые применения дифракционных методов исследования

Иванов С.А., Щукин Г.А. Рентгеновские трубки технического назначения

  • формат djvu
  • размер 2.24 МБ
  • добавлен 06 сентября 2010 г.
Л.: Энергоатомиздат. Ленингр. отд-ние, 1989. — 200 с: ил. Рассмотрены особенности конструкции, параметры и характеристики, методы расчета основных параметров рентгеновских трубок для просвечивания материалов, рентгсноспектрального, рептгеноструктурного анализа, технологических целей. На основе анализа особенностей применения трубок в различных областях науки и техники изложены основные требования к трубкам и пути к выполнению этих требований. Для...

Китайгородский А.И. Как измеряются расстояния между атомами в кристаллах

Статья
  • формат rtf
  • размер 105.1 КБ
  • добавлен 31 января 2011 г.
Статья из журнала "Квант" №2, 1978 О рентгеноструктурном анализе атомной структуры кристаллов. В этой статье речь пойдет об атомной структуре кристаллов, под которой понимается узор, создаваемый центрами атомов. Задача этой статьи заключается в том, чтобы познакомить читателя с основными идеями рентгеноструктурного анализа и дать представление о дороге, следуя которой, можно определить структуру кристалла: измерить расстояния между атомами, дать...

Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ

  • формат djvu
  • размер 19.16 МБ
  • добавлен 19 января 2010 г.
1950. - 651 с. В книге излагаются проблемы современного рентгеноструктурного анализа: кристаллографические основы структурного анализа, получение рентгеновских лучей и взаимодействие их с веществом. Книга рассчитана на научных работников, инженеров, аспирантов и студентов-физиков и химиков старших курсов.

Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел

  • формат djvu
  • размер 11.98 МБ
  • добавлен 19 января 2010 г.
Книга является продолжением книги А. И. Китайгородского "Рентгеноструктурный анализ" (Гостехиздат, 1950) и посвящена применениям рентгеноструктурного анализа и исследованию аморфных и мелкокристаллических веществ. Книга рассчитана на широкий круг научных работников, работающих с разнообразными мелкокристаллическими и аморфными веществами, неправильными кристаллами, а также сложноструктурными веществами - каучуком, белками, целлулозой, жирными кис...

Клопотов А.А., Абзаев Ю.А., Потекаев А.И., Волокитин О.Г. Основы рентгеноструктурного анализа в материаловедении

  • формат pdf
  • размер 3,91 МБ
  • добавлен 13 сентября 2013 г.
Учебное пособие / Томск : Изд-воТом. гос. архит.-строит. ун-та, 2012. – 276 с. + 8 л. цв. вкл. ISBN 978-5-93057-457-9 Кинематическая теория рассеяния рентгеновского излучения Введение в геометрическую кристаллографию Индицирование порошковых рентгенограмм Прецизионное определение параметров элементарной ячейки Качественный и количественный фазовый анализ Полнопрофильный анализ рентгенограмм Упражнения по полнопрофильному анализу методом Ритвел...

Князев А.В. Сулейманов Е.В. Основы рентгенофазового анализа

Практикум
  • формат pdf
  • размер 437.79 КБ
  • добавлен 15 декабря 2011 г.
Учебно-методическое пособие. Нижний Новгород. ГОУ ВПО "Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского". 2005. 23 стр. Учебно-методическое пособие содержит описание методов обработки и графического индицирования дифрактограмм кристаллов, принадлежащих к кубической сингонии. В процессе выполнения работы студенты обучаются проводить идентификацию индивидуальных веществ по их рентгенографическим характеристикам, рассчитывать число ф...

Колос А.С. Обзор по системам цифровой рентгенографии

  • формат doc
  • размер 34,75 КБ
  • добавлен 26 февраля 2015 г.
18 с. — Обзор подготовлен по материалам из отечественных и зарубежных журналов, а также на основе информации, полученной через Internet. Рассмотрен подход ведущих фирм при практической реализации цифровой маммографии и цифровой рентгенографии. Приведен перевод на русский язык статьи «Integrated digital radiography with a flat electronic detector», U. J.Neitzel («Medica Mundi», v.41, no 2, 1997)

Кржижановская М.Г., Фирсова В.А., Бубнова Р.С. Применение метода Ритвельда для решения задач порошковой дифрактометрии

  • формат pdf
  • размер 4,41 МБ
  • добавлен 05 ноября 2016 г.
Учебное пособие. Санкт-Петербургский университет, 2016. - 67 с. В пособии кратко даны основы и методические рекомендации по освоению метода Ритвельда и применения некоторых программ для уточнения кристаллической структуры минералов и химических соединений.

Кривовичев С.В. Практические вопросы рентгеноструктурного анализа. 2. Расшифровка и уточнение кристаллических структур в комплексе SHELX

  • формат pdf
  • размер 7.49 МБ
  • добавлен 29 января 2012 г.
Санкт-Петербург, Санкт-Петербургский государственный университет, 2007, 112 с. В книге представлены основные принципы расшифровки и уточнения структур в программном комплексе SHELX. Данная книга является единственным издание на русском языке о программе SHELX.

Кривоглаз М.А. Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеальных кристаллах

  • формат djvu
  • размер 30.63 МБ
  • добавлен 30 октября 2011 г.
Киев : Наук. думка, 1983.— 408 с. В монографии изложена современная кинематическая теория рассеяния рентгеновских лучей и нейтронов в кристаллах, содержащих различного типа несовершенства: примесные атомы и другие точечные дефекты, группы дефектов, частицы новой фазы, дислокации и т.д. Проведен общий анализ дифракционных эффектов в неидеальных кристаллах. Рассмотрено влияние дефектов на положение, интенсивность и ширину брэгговских отражений и н...

Кузьмичева Г.М. Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть 1

  • формат pdf
  • размер 647.99 КБ
  • добавлен 30 июля 2011 г.
Учебное пособие. - Москва, МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2005. - 90 с. Данное учебное пособие является дополнением к существующим учебникам по рентгенографическим методам исследования и отражает читаемый курс лекций для студентов 3 курса по дисциплине "Методы исследования фазового состава и структуры" (бакалавриат 071000 «Материаловедение и технология новых материалов») и курсам лекций для студентов очной формы обучения 5 курса по дисциплинам "Метод...

Кузьмичева Г.М. Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть 2

  • формат pdf
  • размер 885.29 КБ
  • добавлен 30 июля 2011 г.
Учебное пособие. - Москва, МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2006. - 88 с. Данное учебное пособие является дополнением к существующим учебникам по рентгенографическим методам исследования и отражает читаемый курс лекций для студентов 3 курса по дисциплине "Методы исследования фазового состава и структуры" (бакалавриат 071000 «Материаловедение и технология новых материалов») и курсам лекций для студентов очной формы обучения 5 курса по дисциплинам "Метод...

Лекции по методам структурного анализа. Поликристаллический метод (метод порошка)

Статья
  • формат doc
  • размер 607.62 КБ
  • добавлен 13 октября 2011 г.
НТУ ХПИ, Харьков, Украина, Малыхин С. В., 50 стр. Метод порошка (или поликристаллический метод) – метод рентгеноструктурного анализа поликристаллических образцов, образец неподвижный (иногда образец вращают), излучение монохроматическое. Схемы съемок и обработка полученных результатов

Лиопо В.А., Война В.В. Рентгеновская Дифрактометрия

  • формат pdf
  • размер 4.68 МБ
  • добавлен 17 ноября 2010 г.
- Учеб. пособие - Гродно: ГрГУ, 2003. В пособии рассмотрены элементы теории рентгеновских лучей, даны характеристики рентгеновских аппаратов, используемых для структурного анализа. Описаны особенности рентгеновских дифрактометров, методика юстировки гониометров, принципы анализа порошковых и монокристальных объектов. Рассмотрены алгоритмы рентгеновского фазового анализа. Приведены примеры использования рентгеновских дифрактометров для решения нек...

Лисойван В.И., Громилов С.А. Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов

  • формат djvu
  • размер 4,52 МБ
  • добавлен 09 октября 2016 г.
Монография Новосибирск: "Наука", 1989. - 243 с. В монографии собран и обобщён материал по повышению точности получения и обработки экспериментальных данных в дифрактометрии поликристаллов. Рассмотрены типы современных дифрактометров и их основные характеристики, математическая теория аберраций, методы юстировки гониометров для получения оптимального разрешения и светосилы. Обсуждаются приёмы обработки данных эксперимента, безэталонные методы изме...

Никитина Е.А. Рентгенографическое исследование и компьютерное моделирование углеродных материалов

  • формат pdf
  • размер 479.47 КБ
  • добавлен 09 сентября 2010 г.
Петрозаводск: НОЦ"Плазма", 2003. – 22 с. Проанализированы возможности рентгеноструктурного анализа в исследовании атомной структуры углеродных материалов. Показано, что методы рентгенографического анализа и компьютерного моделирования позволяют извлекать достаточно большую информацию о структурном состоянии вещества. Кроме того, могут позволить контролировать чистоту протекания этапов технологического процесса синтеза углеродных материалов.

Петухов В.Ю., Гумаров Г.Г. Исследование поверхностных слоев твердых тел методом скользящего рентгеновского пучка

  • формат pdf
  • размер 288.54 КБ
  • добавлен 21 ноября 2011 г.
Казань: КазГУ, 2009. - 16 с. Учебно-методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». Рассмотрены вопросы послойного исследования объектов с помощью рентгеноструктурного анализа. Кратко даны общие принципы реализации метода скользящих рентгеновских лучей, приведено описание установки и порядок выполнения работы на приборе. Предложено выполнить некоторые пра...

Пинскер 3. Г. Рентгеновская кристаллооптика

  • формат djvu
  • размер 4.55 МБ
  • добавлен 04 сентября 2010 г.
М.: Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1982 — 392 с. Книга посвящена изложению динамического рассеяния рентгеновских лучей в идеальных кристаллах и кристаллах с постоянным градиентом деформации. Она является 2-м, переработанным и дополненным изданием книги «Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в идеальных кристаллах» (М.: Наука, 1974). С возможной полнотой изложена теория рассеяния в прозрачных и поглощающих кристалла...

Рентгеновские волны, их рассеяние и интерференция

Презентация
  • формат ppt
  • размер 167,95 КБ
  • добавлен 27 апреля 2014 г.
РГМУ, Москва, кафедра биофизики, Владимиров Ю.А., 2003 г., 19 слайдов. Рассеяние рентгеновской волны одним электроном Рассеяние рентгеновских лучей двумя электронами Картина рассеяния рентгеновского излучения в обратном пространстве Свойства вектора рассеяния Shkl от плоскости hkl Условия Лауэ Структурный фактор Векторная диаграмма колебательного движения Характеристики электромагнитной волны Параметры одной и двух волн Структурный фактор элект...

Рентгеноструктурный анализ

  • формат doc
  • размер 270 КБ
  • добавлен 07 августа 2009 г.
Рентгеноструктурный анализ это метод исследования строения тел, использующий явление дифракции рентгеновских лучей, метод исследования структуры вещества по распределению в пространстве и интенсивностям рассеянного на анализируемом объекте рентгеновского излучения. Дифракционная картина зависит от длины волны используемых рентгеновских лучей и строения объекта. Для исследования атомной структуры применяют излучение с длиной волны ?1?, т. е. поряд...

Свергун Д.И. и др. Рентгеновское и нейтронное малоугловое рассеяние

  • формат pdf
  • размер 16,31 МБ
  • добавлен 30 ноября 2012 г.
М.: Наука. Гл. ред. физ. -мат. лит. , 1986. — 280 с. Рассмотрено применение метода малоуглового рассеяния рентгеновского излучения и тепловых нейтронов к анализу структуры вещества на надатомном уровне. Изложены основы теории упругого рассеяния коротких волн неупорядоченными системами. Разобраны теоретические н экспериментальные методы нахождения структуры высокоднсперсных объектов в твердой фазе и в растворах по интенсивности малоуглового рассея...

Свергун Д.И., Фейгин Л.А. Рентгеновское и нейтронное малоугловое рассеяние

  • формат djvu
  • размер 2.45 МБ
  • добавлен 06 сентября 2010 г.
М.: Наука. Гл. ред. физ. -мат. лит. , 1986. — 280 с. Рассмотрено применение метода малоуглового рассеяния рентгеновского излучения и тепловых нейтронов к анализу структуры вещества на надатомном уровне. Изложены основы теории упругого рассеяния коротких волн неупорядоченными системами. Разобраны теоретические н экспериментальные методы нахождения структуры высокоднсперсных объектов в твердой фазе и в растворах по интенсивности малоуглового рассея...

Трушин В.Н., Андреев П.В., Фаддеев М.А. Рентгеновский фазовый анализ поликристаллических материалов

  • формат doc
  • размер 2,55 МБ
  • добавлен 22 сентября 2012 г.
Электронное учебно-методическое пособие. – Нижний Новгород, ННГУ, 2012. – 89 с. В учебно-методическом пособии рассматриваются процессы взаимодействия рентгеновского излучения с веществом. Представлены теоретические основы кинематической теории дифракции рентгеновских лучей в кристаллах. Приведено описание рентгеновской схемы съемки Брэгга-Брентано. Приведены подробные инструкции работы на приборе. Рассмотрены теоретические основы методов количест...

Тузиков Ф.В. Малоугловая рентгеновская дифрактометрия

  • формат doc
  • размер 2.84 МБ
  • добавлен 04 января 2011 г.
Новосибирск: Институт катализа СО РАН, 2009. – 35 с. («Наноструктурный анализ веществ и материалов») Краткий обзор основ теории и практики метода малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) позволяет получить навыки проведения научных анализов с использованием экспериментальных данных МУРР от реальных образцов наносистем и современных материалов с целью определения значений их структурных и дисперсных характеристик. Приведен обзор типов малоугло...

Фарбер В.М., Архангельская А.А. Дифракционные методы анализа

  • формат pdf
  • размер 1.62 МБ
  • добавлен 01 июля 2009 г.
В основе описания структуры и свойств металлов и сплавов лежат представления об их кристаллическом строении. Это вызвало необходимость привести в первой части пособия основные уравнения и понятия геометрической кристаллографии: симметрии, прямой и обратной решёток, кристаллографических проекций. Здесь выделены только те узловые вопросы, использование которых необходимо для расчета картин электронной дифракции, анализа деталей структуры на электро...

Хейкер Д.М., Зевин Л.С. Рентгеновская дифрактометрия

  • формат djvu
  • размер 3.44 МБ
  • добавлен 30 марта 2010 г.
Физико-математическая библиотека инженера. - М.: Физматгиз, 1963. -380 с. Книга рассчитана на инженеров и научных работников рентгеновских лабораторий, она может быть полезна студентам старших курсов, аспирантам, специализирующимся по структурному анализу, металлофизике, методам исследования различных материалов.

Храмов А.С., Лукьянов И.В. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов. Часть IV. Справочник

  • формат pdf
  • размер 520,14 КБ
  • добавлен 27 декабря 2012 г.
Учебно-методическое пособие. — Казань: КФ(П)У, 2010. — 76 с. В IV части пособия представлен справочный материал, необходимый при выполнении лабораторных работ в рамках спецкурса «Кристаллография и рентгеноструктурный анализ». Справочник краткий, так как необходимые понятия обсуждаются в соответствующих описаниях лабораторных работ. Термины, обозначения величин и используемые сокращения изложены в Части 5 (Краткий терминологический словарь) учебно...

Храмов А.С., Назипов Р.А. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов. Часть V. Краткий терминологический словарь

  • формат pdf
  • размер 4.79 МБ
  • добавлен 14 декабря 2011 г.
Казань. 2009.- 72 с. Учебно-методическое пособие для студентов физического факультета. Методическое пособие предназначено для студентов физического факультета при изучении курса кристаллографии и рентгеноструктурного анализа. Может быть рекомендовано для студентов физического, геологического и химического факультетов, специализирующихся в области физики конденсированных сред, минералогии и химии твердого тела.

Чупрунов Е.В., Фаддеев М.А., Алексеев Е.В. Рентгеновские методы исследования твёрдых тел

  • формат pdf
  • размер 2.69 МБ
  • добавлен 04 августа 2011 г.
Учебно-методические материалы по программе повышения квалификации. «Физико- химические основы нанотехнологий». Нижний Новгород, 2007, 194 с. Предлагаемые учебно-методические материалы предназначены для научных сотрудников, аспирантов и студентов физических специальностей, которые изучают рентгеновские методы исследования атомной структуры вещества и осваивают возможности их применения в научных исследованиях. Данное пособие состоит из восьми гла...

Штольц А.К., Медведев А.И., Курбатов Л.В. Рентгеновский анализ микронапряжений и размера областей когерентного рассеяния в поликристаллических материалах

  • формат pdf
  • размер 298.88 КБ
  • добавлен 14 декабря 2011 г.
Екатеринбург. ГОУ?ВПО УГТУ?УПИ. 2005. 23 стр. Свойства конкретного поликристаллического материала или порошка из кристаллических зерен существенно зависят от размера кристалликов и от напряжений, возникающих в них. Обе характеристики материала зависят от условий получения материала и тех воздействий, которым данный материал подвергался. Роль таких воздействий могут играть, например, температура и механические воздействия. Оценить размер кристалл...

Authier A., Lagomarsino S. X-ray and neutron dynamic diffraction

  • формат djv
  • размер 8.22 МБ
  • добавлен 22 января 2011 г.
1996. – 419 р. This volume collects the proceedings of the 23rd International Course of Crystallography, entitled "X-rqy and Neutron Dynamical Diffraction, Theory and Applications. " which took place in the fascinating setting of Erice in Sicily, Italy It was run as a NATO Advanced Studies Institute with A. Authier (France) and S. Lagomarsino (Italy) as codirectors, and L. Riva di Sansevcrino and P. Spadon (ftaly) as local organizers, R. Colella...

Billinge S.J.L., M.F.Thorpe. Local Structure from Diffraction

  • формат djv
  • размер 5.34 МБ
  • добавлен 22 января 2011 г.
2002. – 399 р. This workshop on Local Structure from Diffraction was organized to bring together leading researchers studying local structure using diffraction techniques. Surprisingly, there are few opportunities for the powder and single crystal diffuse scattering communities to come together in one place and discuss their common goals of local structure determination. This intimate and intensive workshop was held at the historic and picturesqu...

Woolfson M.M. An introduction to X-ray crystallography

  • формат pdf
  • размер 42.34 МБ
  • добавлен 03 января 2011 г.
Cambridge University Press, Cambridge, UK - 1997 - 414 p. This is a textbook for the senior undergraduate or graduate student beginning a serious study of X-ray crystallography. It will be of interest both to those intending to become professional crystallographers and to those physicists, chemists, biologists, geologists, metallurgists and others who will use it as a tool in their research. All major aspects of crystallography are covered - the...

Zachariasen W.H. Theory of X-Ray Diffraction in Crystals

  • формат pdf
  • размер 9.98 МБ
  • добавлен 11 января 2012 г.
Dover Publications, Inc., 1967. - 280 p. The Nature of Crystals The Symmetry of Crystals Theory of X-Ray Diffraction in Ideal Crystals X-Ray Interference in Real Crystals Dyadics Elements of Group Theory