Монография
Новосибирск: "Наука", 1989. - 243 с. В монографии собран и обобщён материал по повышению точности получения и обработки экспериментальных данных в дифрактометрии поликристаллов. Рассмотрены типы современных дифрактометров и их основные характеристики, математическая теория аберраций, методы юстировки гониометров для получения оптимального разрешения и светосилы. Обсуждаются приёмы обработки данных эксперимента, безэталонные методы измерения межплоскостных расстояний, эталоны и их применение, погрешности измерения интенсивностей и способы устранения текстуры. Наряду с известными в монографию включены и оригинальные методики, разработанные авторами. Освещены приёмы обработки первичной информации с применением вычислительной техники и критерии оценки качества данных.
Книга предназначена для научных и инженерно-технических работников рентгенографических подразделений материаловедческих, химических и геологических организаций. Предисловие
Дифрактометры для поликристаллов
Аберрации дифрактометра
Юстировка гониометра и стабильность работы дифрактометра
Разрешение и светосила
Обработка экспериментальных данных
Безэталлонные методы определения межплоскостных расстояний
Эталоны
Погрешности измерения интенсивностей
Способы уменьшения и полного устранения преимущественной ориентации в процессе приготовления образца
Получение точных данных
Качество экспериментальных данных
Заключение
Список литературы
Новосибирск: "Наука", 1989. - 243 с. В монографии собран и обобщён материал по повышению точности получения и обработки экспериментальных данных в дифрактометрии поликристаллов. Рассмотрены типы современных дифрактометров и их основные характеристики, математическая теория аберраций, методы юстировки гониометров для получения оптимального разрешения и светосилы. Обсуждаются приёмы обработки данных эксперимента, безэталонные методы измерения межплоскостных расстояний, эталоны и их применение, погрешности измерения интенсивностей и способы устранения текстуры. Наряду с известными в монографию включены и оригинальные методики, разработанные авторами. Освещены приёмы обработки первичной информации с применением вычислительной техники и критерии оценки качества данных.
Книга предназначена для научных и инженерно-технических работников рентгенографических подразделений материаловедческих, химических и геологических организаций. Предисловие
Дифрактометры для поликристаллов
Аберрации дифрактометра
Юстировка гониометра и стабильность работы дифрактометра
Разрешение и светосила
Обработка экспериментальных данных
Безэталлонные методы определения межплоскостных расстояний
Эталоны
Погрешности измерения интенсивностей
Способы уменьшения и полного устранения преимущественной ориентации в процессе приготовления образца
Получение точных данных
Качество экспериментальных данных
Заключение
Список литературы