Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных
заведений. Российская академия наук, Институт физики микроструктур
- г. Нижний Новгород, 2004 г.
Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших
курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых
современных методов исследования поверхности твердого тела –
сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются
основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных
исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ),
атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ),
магнитно-силовая микроскопия (МСМ), ближнепольная оптическая
микроскопия (БОМ).
Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии
Похожие разделы
Смотрите также
Горелик С.С. Рентгенографический и электроннооптический анализ, 2-е издание
Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электрон- ной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояс- нения и изложен порядок выполнения задач. В приложении дан необходимый справочный материал. Книга предназначена для студентов м...
Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия
М: Мир, 1978, 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков...
Конончук П.Ю. Адаптация метода оптической счётной микроскопии для определения гранулометрического состава почв - Автореферат
Автореферат диссертации на … кандидата сельскохозяйственных наук. Спб, 2009. – 21 с. Цель исследования состояла в адаптации оптической счётной микроскопии для определения гранулометрического состава почв. Новизна и научная значимость работы заключается в том, что в ней впервые показаны адаптивные требования к методу оптической счётной микроскопии в ее стандартном приборном исполнении для определения гранулометрического состава почв. Основными пол...
Круглов А.В., Голубок А.О. Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография
Москва, НИИФП, ЗАО «НТ-МДТ». - 108 с. В данном учебном пособии представлены лабораторные работы, посвященные изучению методов сканирующей зондовой микроскопии, включая спектроскопические измерения и процессы литографии, а также их применение для исследований и модификации микро- и наноструктур. Учебное пособие предназначено для студентов старших курсов и магистратуры, обучающихся по специальностям: 20200 "Нанотехнология в электронике", 073800 "...
Курсовая работа - Растровый электронный микроскоп
БГТУ, 2008, 31 стр. Введение Электронно-микроскопический метод исследования Физические основы растровой электронной микроскопии Разновидности растрового электронного микроскопа Схема растрового электронного микроскопа, назначение его узлов и их функционирование Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним Технические возможности растрового электронного микроскоп Современные виды РЭМ Заключение Список литературы
Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии
М., Техносфера 2005 г. 144 стр. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силов...
Томас Г., Гориндж М. Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов
М.: Наука, 1983. - 320 с. Книга известных зарубежных ученых Г. Томаса и М.Дж. Горинджа посвящена исследованию материалов методом просвечивающей электронной микроскопии. На основе новейших экспериментальных и теоретических данных изложены физические основы электронной микроскопии и дифракции электронов, теории контраста и динамической теории дифракции в применении к исследованию различных материалов, данные о реальной структуре кристаллов и матер...
Хейденрайх Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии
М., "Мир", 1966. Электронная микроскопия является одним из мощных методов научного исследования и в настоящее время плодотворно применяется в физике, химии, биологии, технике. Предлагаемая книга извеетного американского физика Р. Хейденрайха посвящена теории просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии. В ней систематически изложены теоретические основы методов получения изображения кристаллических и аморфных объектов. Подробно рас...
Шиммель Г. Методика электронной микроскопии
М., Изд-во «МИР», 1972, 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава, динамики (в том числе количественной оценки) разнообразных процессов....
Garcia R., Perez R. Dynamic atomic force microscopy metods
Surface Science Reports 47 (2002) р.197–301 journal homepage: www.elsevier.com/locate/surfrep Данный доклад посвящен основам, применению и перспективам развития динамической атомно-силовой микроскопии. Рассмотрены полуконтактная и бесконтактная моды атомно-силовой микроскопии.