Казань: КазГУ, 2009. - 16 с.
Учебно-методическое пособие предназначено для студентов четвертого
курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и
тонких пленок». Рассмотрены вопросы послойного исследования
объектов с помощью рентгеноструктурного анализа. Кратко даны общие
принципы реализации метода скользящих рентгеновских лучей,
приведено описание установки и порядок выполнения работы на
приборе. Предложено выполнить некоторые практические задания на
рентгеновском дифрактометре по методу скользящего рентгеновского
пучка. При выполнении работы учитывается, что студенты уже знакомы
с основами рентгеноструктурного анализа из прослушанных курсов и
соответствующих выполненных лабораторных работ.
Петухов В.Ю., Гумаров Г.Г. Исследование поверхностных слоев твердых тел методом скользящего рентгеновского пучка
Похожие разделы
Смотрите также
Вагизов Ф.Г. Садыков Э.К. Процессы бесфононного излучения и поглощения гамма фотонов ядрами в твердых телах (теория и практика мессбауэровской спектроскопии)
Казань: КазФУ, 2011. - 30 с. В классическом и квантово-механическом изложении дано определение фактора Лэмба —Мёссбауэра — параметра, выражающего суть эффекта Мёссбауэра и являющегося характеристикой вещества, исследуемого методом ядерного гамма резонанса. Описаны методики экспериментального определения этого параметра. Представлены схема лабораторной установки и алгоритм действий по определению фактора Лэмба — Мёссбауэра для нержавеющей стали м...
Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия
М: Мир, 1978, 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков...
Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 2
349 с. 1984 г. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов и т. д. Книга представляет интерес для физиков, химиков, материал...
Данилькевич М.И. Методические указания к лабораторным работам по разделу Физика магнетиков и диэлектриков
Учеб. пособие. Мн.: БГУ, 1988, – 31с. Содержание: Изучение топографии магнитных полей миниатюрными датчиками Холла Измерение магнитной восприимчивости слабомагнитных веществ в неоднородном магнитном поле Определение магнитных характеристик в переменных магнитных полях методом амперметра-вольтметра и осциллографическим методом Частотная зависимость магнитной проницаемости трансформаторной стали и феррита Определение точки Кюри ферримагнетика из те...
Желтов К.А. Пикосекундные сильноточные электронные ускорители
М.: Энергоатомиздат, 1991. - 120 с. Рассмотрены пикосекундные сильноточные электронные ускорители с взрывоэмиссионными вакуумными диодами. Максимальная энергия излучения до 1 МэВ при длительности на половине амплитудного значения 70—200 пс. Ток пучка электронов до 104 А. Описаны измерения пикосекундных всплесков с помощью широкополосных (3—5 ГГц) делителей и аттенюаторов. Изложены принципы построения и теория трансформаторных источников питания...
Зимкина Т.М. Фомичев В.А. Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия
Ленинград, ЛГУ, 1971. ? 132 c. Книга является первым обзором работ по ультрамягкой рентгеновской спектроскопии, выполненных в нашей стране. В ней изложены основные результаты исследований, посвященных разработке современной методики и техники эксперимента в области длинноволнового рентгеновского излучения, приводятся результаты применения разработанного метода исследования к изучению электронной структуры твердых тел и газообразных молекулярных...
Машкова Е.С. Молчанов В.А. Применение рассеяния ионов для анализа твердых тел
Энергоатомиздат, 1995. 176 с. Табл. .2, Ил. .80, Библиогр. : 133 назв. Впервые систематизированы исследования, относящиеся к применению ионно-рассеивательной спектроскопии и спектроскопии атомов отдачи для анализа объемных и поверхностных свойств твердых тел. Рассматриваются физические основы этих методов. Приведена типичная аппаратура, результаты исследования состава, атомной структуры, морфологии и динамических свойств твердых тел. Издание подг...
Петухов В.Ю., Хабибулина Н.Р. Исследование тонких пленок методом ЭПР
Казань, 2009. - 31 с. Методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». В первой части пособия кратко изложены основы метода ЭПР, приведены основные характеристики спектров: g-фактор, интенсивность, ширина и форма линий. Более подробно рассмотрены вопросы возникновения сверхтонкой и тонкой структуры спектров ЭПР. Во второй части пособия описана техника получе...
Углов В.В., Черенда Н.Н., Анищик В.М. Методы анализа элементного состава поверхностных слоев
Учеб. пособие. -Мн.: БГУ, 2007. -158с. Изложены основные представления о современных методах анализа элементного состава поверхностных слоев материалов. Для каждого из методов рассматриваются физические процессы, лежащие в основе метода, основные их закономерности, зависимости получаемых данных от параметров анализирующего пучка, достоинства и недостатки метода, а также некоторые технологические вопросы. Учебное пособие предназначено для студенто...
Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок
Пер. с англ. — М.: Мир, 1989. — 344 с, ил. Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на вы...