• формат pdf
  • размер 288.54 КБ
  • добавлен 21 ноября 2011 г.
Петухов В.Ю., Гумаров Г.Г. Исследование поверхностных слоев твердых тел методом скользящего рентгеновского пучка
Казань: КазГУ, 2009. - 16 с.
Учебно-методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». Рассмотрены вопросы послойного исследования объектов с помощью рентгеноструктурного анализа. Кратко даны общие принципы реализации метода скользящих рентгеновских лучей, приведено описание установки и порядок выполнения работы на приборе. Предложено выполнить некоторые практические задания на рентгеновском дифрактометре по методу скользящего рентгеновского пучка. При выполнении работы учитывается, что студенты уже знакомы с основами рентгеноструктурного анализа из прослушанных курсов и соответствующих выполненных лабораторных работ.
Похожие разделы
Смотрите также

Вагизов Ф.Г. Садыков Э.К. Процессы бесфононного излучения и поглощения гамма фотонов ядрами в твердых телах (теория и практика мессбауэровской спектроскопии)

  • формат pdf
  • размер 461.46 КБ
  • добавлен 21 ноября 2011 г.
Казань: КазФУ, 2011. - 30 с. В классическом и квантово-механическом изложении дано определение фактора Лэмба —Мёссбауэра — параметра, выражающего суть эффекта Мёссбауэра и являющегося характеристикой вещества, исследуемого методом ядерного гамма резонанса. Описаны методики экспериментального определения этого параметра. Представлены схема лабораторной установки и алгоритм действий по определению фактора Лэмба — Мёссбауэра для нержавеющей стали м...

Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия

  • формат pdf
  • размер 36.5 МБ
  • добавлен 20 мая 2010 г.
М: Мир, 1978, 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков...

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 2

  • формат djv
  • размер 9.16 МБ
  • добавлен 13 июля 2010 г.
349 с. 1984 г. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов и т. д. Книга представляет интерес для физиков, химиков, материал...

Данилькевич М.И. Методические указания к лабораторным работам по разделу Физика магнетиков и диэлектриков

Практикум
  • формат pdf
  • размер 1.5 МБ
  • добавлен 07 июня 2011 г.
Учеб. пособие. Мн.: БГУ, 1988, – 31с. Содержание: Изучение топографии магнитных полей миниатюрными датчиками Холла Измерение магнитной восприимчивости слабомагнитных веществ в неоднородном магнитном поле Определение магнитных характеристик в переменных магнитных полях методом амперметра-вольтметра и осциллографическим методом Частотная зависимость магнитной проницаемости трансформаторной стали и феррита Определение точки Кюри ферримагнетика из те...

Желтов К.А. Пикосекундные сильноточные электронные ускорители

  • формат djvu
  • размер 1.46 МБ
  • добавлен 03 октября 2010 г.
М.: Энергоатомиздат, 1991. - 120 с. Рассмотрены пикосекундные сильноточные электронные ускорители с взрывоэмиссионными вакуумными диодами. Максимальная энергия излучения до 1 МэВ при длительности на половине амплитудного значения 70—200 пс. Ток пучка электронов до 104 А. Описаны измерения пикосекундных всплесков с помощью широкополосных (3—5 ГГц) делителей и аттенюаторов. Изложены принципы построения и теория трансформаторных источников питания...

Зимкина Т.М. Фомичев В.А. Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия

  • формат djvu
  • размер 2.13 МБ
  • добавлен 08 января 2012 г.
Ленинград, ЛГУ, 1971. ? 132 c. Книга является первым обзором работ по ультрамягкой рентгеновской спектроскопии, выполненных в нашей стране. В ней изложены основные результаты исследований, посвященных разработке современной методики и техники эксперимента в области длинноволнового рентгеновского излучения, приводятся результаты применения разработанного метода исследования к изучению электронной структуры твердых тел и газообразных молекулярных...

Машкова Е.С. Молчанов В.А. Применение рассеяния ионов для анализа твердых тел

  • формат djvu
  • размер 5.06 МБ
  • добавлен 24 марта 2011 г.
Энергоатомиздат, 1995. 176 с. Табл. .2, Ил. .80, Библиогр. : 133 назв. Впервые систематизированы исследования, относящиеся к применению ионно-рассеивательной спектроскопии и спектроскопии атомов отдачи для анализа объемных и поверхностных свойств твердых тел. Рассматриваются физические основы этих методов. Приведена типичная аппаратура, результаты исследования состава, атомной структуры, морфологии и динамических свойств твердых тел. Издание подг...

Петухов В.Ю., Хабибулина Н.Р. Исследование тонких пленок методом ЭПР

  • формат pdf
  • размер 904.09 КБ
  • добавлен 22 апреля 2011 г.
Казань, 2009. - 31 с. Методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». В первой части пособия кратко изложены основы метода ЭПР, приведены основные характеристики спектров: g-фактор, интенсивность, ширина и форма линий. Более подробно рассмотрены вопросы возникновения сверхтонкой и тонкой структуры спектров ЭПР. Во второй части пособия описана техника получе...

Углов В.В., Черенда Н.Н., Анищик В.М. Методы анализа элементного состава поверхностных слоев

  • формат pdf
  • размер 8.67 МБ
  • добавлен 03 июня 2011 г.
Учеб. пособие. -Мн.: БГУ, 2007. -158с. Изложены основные представления о современных методах анализа элементного состава поверхностных слоев материалов. Для каждого из методов рассматриваются физические процессы, лежащие в основе метода, основные их закономерности, зависимости получаемых данных от параметров анализирующего пучка, достоинства и недостатки метода, а также некоторые технологические вопросы. Учебное пособие предназначено для студенто...

Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок

  • формат djvu
  • размер 2.56 МБ
  • добавлен 14 августа 2010 г.
Пер. с англ. — М.: Мир, 1989. — 344 с, ил. Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на вы...