• формат djvu
  • размер 3,20 МБ
  • добавлен 15 сентября 2016 г.
Вартанов Н.А., Самойлов П.С. Практические методы сцинтилляционной гамма-спектрометрии
Под ред. д-ра техн. наук В. В. Матвеева. — М.: Атомиздат, 1964. — 275 с.
Сцинтилляционный метод применяют для решения задач, связанных с исследованием или использованием излучений. Свойства сцинтилляционных детекторов: высокая эффективность регистрации видов излучений, высокая временная разрешающая способность, способность измерять энергию частиц и квантов. Недостатком метода исследования излучений является сложность обработки результатов измерений: отсутствие полных сведений о характеристиках сцинтилляционных счетчиков и методах обработки сцинтилляционных спектров. В книге собраны и обобщены данные по этим вопросам. В приложении приведены рассчитанные методом геометрического подобия полные эффективности регистрации гамма-излучения для кристаллов NaI(Tl) и CsI(Tl) стандартных размеров, а также их фоточасти. Приведен справочный материал, облегчающий обработку сцинтилляционных спектров. В гл. 1 рассмотрены принципы сцинтилляционного метода, основные параметры сцинтилляционного спектрометра, способы их практического определения. В гл. 2 разобраны вопросы, связанные с теоретическим и экспериментальным определением полных эффективностей, фоточастей и фотоэффективностей кристаллов NaI(Tl) и CsI(Tl) цилиндрической формы. Рассмотрены явления, сопутствующие процессам регистрации y-квантов кристаллами в различных областях энергии. В гл. 3 рассмотрено применение однокристального гамма-спектрометра, в т.ч. спектрометра полного поглощения.
Сцинтилляционный метод
Введение
Взаимодействие гамма-излучения с веществом сцинтиллятора.
Форма линии в сцинтилляционном гамма-спектрометре.
Аппаратурная линия при больших энергиях.
Спектрометры полного поглощения.
Основные характеристики сцинтилляционных гамма-спектрометров.
Применение кристаллов CsI(Тl) и пластических сцинтилляторов для спектрометрии гамма-излучения
Калибровка сцинтилляционных гамма-спектрометров .
Введение
Полная эффективность регистрации.
Фоточасти кристаллов NaI(Тl) и CsI(Тl).
Фотоэффективность.
Эффекты суммирования каскадных квантов и утечки рентгеновского K-излучения йода из кристалла.
Сцинтилляционные гамма-спектрометры с геометрией 4п.
Определение основных характеристик пика полного поглощения.
Применение сцинтилляционного гамма-спектрометра для решения некоторых физических задач
Эталонирование точечных и распределенных источников гамма-излучения
Определение относительных интенсивностей гамма-переходов, сопровождающих радиоактивный распад ядер.
Определение отношения вероятностей электронного захвата к испусканию позитронов на сцинтилляционном гамма-спектрометре.
Определение коэффициентов внутренней конверсии гамма-лучей и выходов флуоресценции сцинтилляционным спектрометром.
Применение спектрометра полного поглощения для определения интенсивности пучка тормозного излучения ускорителей.
Приложения
Эффективность регистрации гамма-излучения кристаллами NaI(Tl) и CsI(Tl).
Характеристика калибровочных изотопов.
Комптоновское рассеяние гамма-квантов.
Коэффициенты поглощения гамма-излучения для некоторых элементов.
Критические энергии поглощения и излучений рентгеновских лучей для К- и L-серий.
Значения натуральных логарифмов, используемых при обработке фотопиков.
Поправочный коэффициент на радиоактивный распад для различных значений времени t, выраженный в долях периода полураспада Т.
Литература.
Похожие разделы