
уже слабо с ней связаны. Затем на поверхность наносят кварцевую
или
 угольную
 пленку, при отделении которой от металлического
шлифа
 в
 результате
 частичного электролитического растворения
последнего в ней остаются частицы карбидов, расположенные таким
же образом, как и в исходной металлической поверхности.
Отделенную пленку можно подвергать в том же электронном
микроскопе
 электронографическому исследованию ' для определе-
ния
 природы той фазы, включения которой находятся в пленке или
слепке.
Выделение избыточных фаз можно также зафиксировать в оксид-
ных слепках, полученных окислением поверхности или в
 результате
соответствующего травления или нагрева. Так как разные фазы
обладают различной способностью к окислению, то они образуют
окисные
 пленки неодинаковой толщины и состава. При соответству-
ющем химическом воздействии можно растворить матрицу таким
образом, чтобы при отделении оксидной пленки вместе с ней были
отделены и расположенные в пленке частицы избыточной фазы.
Исследованию слепков, полученных любым из этих методов,
должно предшествовать изучение микрошлифа в оптическом микро-
скопе
 при разных увеличениях, вплоть до максимальных. Это необ-
ходимо для того, чтобы
 легче
 расшифровать
 структуру,
 наблюдаемую
в
 электронном микроскопе. При исследовании в электронном микро-
скопе
 необходимо также постепенно переходить от малых увеличе-
ний
 к большим с тем, чтобы получить непрерывную серию наблюде-
ний
 от увеличений, получаемых в оптическом микроскопе, до боль-
ших увеличений электронного микроскопа.
Если
 исследуют
 структуру,
 которая является в достаточной мере
однородной или равномерно распределенной по объему металличе-
ского шлифа, то достаточно изучить любой участок пленки. Если
же нужно рассмотреть только определенный участок, именно тот,
который
 был замечен при исследовании на оптическом микроскопе,
исследование структуры в электронном микроскопе значительно
усложняется, так как надо изучить большую поверхность пленки,
а поле зрения в электронном микроскопе имеет диаметр 5—6 мкм.
Для ускорения работы и большей уверенности, что в электрон-
ном
 микроскопе
 будет
 изучен именно указанный участок, приме-
няют методы «прицельного» наблюдения.
Растровые
 микроскопы
Растровый электронный микроскоп имеет меньшую разреша-
ющую
 способность; но его достоинство — возможность непосред-
ственно наблюдать
 структуру
 поверхности объекта без изготовления
слепков или получения тонких фольг.
1
 Электронографическое исследование состоит в изучении
 дифракционной
 кар-
тины
 (электронная
 микродифракция),
 получаемой с поверхности данной фазы
в
 результате взаимодействия атомов, входящих в состав этой
 фазы,
 с пучком электро-
нов.
 Метод микродифракции является одним из наиболее эффективных методов опре-
деления
 фазового состава сплавов.
81