Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ

АН СССР. М. -Л. 1940. 327 с. Предисловие Метод сцинтилляций Ионизационный метод Счетчики Пропорциональные усилители Камера Вильсона Магнитный анализ Получение следов частиц в эмульсии фотопластинок

Перевод с французского Е. Н. Беловой, С. С. Квитки, В. П. Тарасовой под редакцией академика Н. В. Белова` М. Наука 1961г. 604 с. Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку для рентгеновского излучения. В настоящей книге, написанной выдающимся францу...

Казань: КазГУ, 2008. - 50 с. Конспект составлен по 9 лекциям и предназначен для студентов физического факультета вечернего отделения, к курсу «Компьютерный гамма- и рентгеноспектральный анализ», а также для студентов дневного отделения, к курсу «Рентгеноструктурный и рентгеноспектральный анализ».

Москва. МИСИС. 2008. 99 стр. Конспект лекций по спецкурсу Физика металлов. Рентгеновская техника Анализ субструктуры по ширине, профилю и интенсивности рентгеновских линий Некоторые применения дифракционных методов исследования

Статья из журнала "Квант" №2, 1978 О рентгеноструктурном анализе атомной структуры кристаллов. В этой статье речь пойдет об атомной структуре кристаллов, под которой понимается узор, создаваемый центрами атомов. Задача этой статьи заключается в том, чтобы познакомить читателя с основными идеями рентгеноструктурного анализа и дать представление о дороге, следуя которой, можно определить структуру кристалла: измерить расстояния между атомами, дать...

Книга является продолжением книги А. И. Китайгородского "Рентгеноструктурный анализ" (Гостехиздат, 1950) и посвящена применениям рентгеноструктурного анализа и исследованию аморфных и мелкокристаллических веществ. Книга рассчитана на широкий круг научных работников, работающих с разнообразными мелкокристаллическими и аморфными веществами, неправильными кристаллами, а также сложноструктурными веществами - каучуком, белками, целлулозой, жирными кис...

Методические указания к практическим занятиям по дисциплине "Технология полупроводниковых материалов, приборов и интегральных микросхем" Ленинград, издательство ЛЭТИ, 1991, 32с. Рассматривается применение рентгеноспектрального микроанализа для решения ряда практических задач полупроводниковой технологии. Даны краткие описания задач и путей их решения, а также сформулированы конкретные задания. 8 работ: Определение положения линии солидуса в бинар...

Руководство пользователя. - Москва, НИИФП, ЗАО «НТ-МДТ», 2008. - 137 с. Принцип работы и конструкция Подготовка прибора к работе Интерфейс программы NanoEducator Проведение измерений Анализ и обработка изображений в программе Scan Viewer Приложения: Травление игл Программный осциллограф Цифровой видеомикроскоп Электронный блок Смотрите Часть 1 - Круглов А. В., Голубок А. О. Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Под ред. Л.А.Асланова - Издательство М.: Физматлит -2007 - 672 с. - Что такое синхротронное излучение (СИ), как оно получается и какими уникальными свойствами обладает? Что нового по сравнению с рентгеновскими лучами из рентгеновских трубок могут дать рентгеновские лучи из источников СИ для исследования атомной структуры веществ? Какие генераторы СИ уже есть в настоящее время и какие могут появиться в ближайшем будущем, где их можно найти и как...

Л., Недра, 1975. - 399с. Описаны методы и аппаратура рентгенографии поли- и монокристаллических материалов в фотографическом и дифрактометрическом вариантах в комнатных условиях и при повышенных температурах. Краткое содержание: Рентгеновские установки Качественный фазовый анализ Количественный фазовый анализ Прецизионное определение параметров ячейки Высокотемпературная дифрактометрия поликристаллов Фотографические методы ренгенографии монокрис...