• формат djvu
  • размер 4.85 МБ
  • добавлен 21 апреля 2011 г.
Королев Ф.А. Спектроскопия высокой разрешающей силы
ГИТТЛ. М. 1953. 287 с.
В предлагаемой монографии освещена теория н практика спектроскопии высокой разрешающей силы.
При изложении теоретических вопросов автор базируется на развитой им теории, полностью учитывающей явления диффракции в интерференционных приборах. В книге дается теория ступенчатой решетки, плоско-параллельных пластинок, сложных интерферометров и их применения. Освещены вопросы ширины спектральных линий, а также вопросы, связанные с теорией и практикой источников света для спектроскопии высокой разрешающей силы. Кратко обрисованы основные области применения.
Книга предназначается для научных работников, аспирантов и студентов старших курсов физических факультетов университетов.
Похожие разделы
Смотрите также

Брагинский В.Б. Физические эксперименты с пробными телами

  • формат djvu
  • размер 1.98 МБ
  • добавлен 19 апреля 2011 г.
Издательство "Наука", Главная редакция физико-математической литературы, 1970, 136 стр. В книге рассматриваются физические эксперименты, в которых обнаружение эффекта сводится к обнаружению малой силы или момента сил, действующих на макроскопическое тело. Анализируется пороговая чувствительность механического осциллятора к воздействию регулярной внешней силы. Рассмотрены эффекты светового трения и радиометрической колебательной неустойчивости. О...

Вагизов Ф.Г. Садыков Э.К. Гайнов Р.Р. Метод задержанных совпадений в гамма-резонансной спектроскопии (теория и практика мессбауэровской спектроскопии)

  • формат pdf
  • размер 381.48 КБ
  • добавлен 21 ноября 2011 г.
Казань: КазФУ, 2011. - 20 с. В настоящее время гамма-резонансная спектроскопия (ГРС) является одним из эффективных методов исследования микроструктуры твердых тел. Традиционной методикой эксперимента в ГРС является измерение энергетических мёссбауэровских спектров поглощения. Наряду с этим существует принципиально отличная методика, основанная на измерении временных мессбауэровских спектров. В этом случае источником информации служит временная з...

Волков С.В., Яцимирский К.Б. Спектроскопия расплавленных солей

  • формат pdf
  • размер 12.66 МБ
  • добавлен 31 марта 2011 г.
Киев.: Наукова Думка. 1977. 223 с. В монографии представлены результаты исследований в области электронной, колебательной (инфракрасной и комбинационного рассеяния ) спектроскопии расплавленных солей.

Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности

  • формат djvu
  • размер 5.52 МБ
  • добавлен 12 июля 2010 г.
М., Мир, 1989. -564с. В книге излагаются физические основы более двадцати современных методов исследованния поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д. ).

Зайдель А.Н., Шрейдер Е.Я. Вакуумная спектроскопия и ее применение

  • формат djvu
  • размер 4.01 МБ
  • добавлен 12 июня 2011 г.
Монография (серия - Физика и техника спектрального анализа). Москва, Изд-во Наука, 1976, 218 с. В книге описана экспериментальная техника, спектральные приборы, оптические материалы и источники света, применяемые при исследованиях, связанных с использованием вакуумной ультрафиолетовой области спектра. Изложены также основные результаты по применению этой области к изучению плазмы, атомных спектров, атомных столкновений, флуоресцентного и эмиссион...

Зигбан К., Нордлинг К. Электронная спектроскопия

  • формат djvu
  • размер 6.92 МБ
  • добавлен 04 сентября 2010 г.
Пер. с англ. М.: Мир; Год: 1973; Стр. : 493; Книга посвящена спектроскопии фотоэлектронов, возбужденных рентгеновким или УФ-излучением. Электронная спектроскопия позволяет получать важную информацию об электронной структуре вещества - абсолютных значениях энергии связи электронов на всей совокупности атомных уровней, эффективные заряды атомов, распределение электронов по энергиям в валентной зоне.

Кочубей Д.И. и др. Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел: EXAFS-спектроскопия

  • формат djv
  • размер 3.47 МБ
  • добавлен 09 апреля 2011 г.
Новосибирск. Наука. Сиб. отд. 1988. 306 с. В монографии подробно описан новый мощный структурный метод, позволяющий в объекте любой сложности и любого агрегатного состояния измерять кривую радиального распределения атомов для локального (до 5 А) координационного окружения заданного химического элемента по дальней тонкой структуре его рентгеновских спектров поглощения (EXAFS-спектроскопия). Рассмотрены теоретические и методические вопросы EXAFS-сп...

Лекции - Современные методы исследования конденсированных материалов

Статья
  • формат pdf
  • размер 1.71 МБ
  • добавлен 20 марта 2011 г.
2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника. Содержание Основные понятия. Методы изучения электрических характеристик. Измерение удельного сопротивления. Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления...

Михайлин В.В. Синхротронное излучение в спектроскопии

  • формат pdf
  • размер 2.63 МБ
  • добавлен 02 марта 2011 г.
М.: НИИЯФ МГУ, 2007. - 161 с. Учебное пособие предназначено для студентов физического факультета МГУ им. М. В. Ломоносова, слушающих курсы «Синхротронное излучение и его применения» и «Спектроскопия твердого тела» и аспирантов, слушающих курс «Методы спектроскопии с синхротронным излучением», Содержание. Свойства синхротронного излучения. Источники и каналы СИ. Спектральные приборы в каналах СИ. Экспериментальные установки в каналах СИ. Методы...

Пилянкевич А.Н., Климовицкий А.М. Электронные микроскопы

  • формат djvu
  • размер 1.56 МБ
  • добавлен 04 сентября 2010 г.
Киев. «Техшка», 1976, 168 с. Изложены основные представления электронной геометрической оптики, рассмотрен принцип действия электростатических и электромагнитных электронных линз и основные виды их аберраций, а также конструкции линз и их взаимодействие в оптической системе электронных микроскопов просвечивающего типа. Особое внимание уделено практическим вопросам эксплуатации электронных микроскопов: наладке, юстировке, проверке разрешающей спо...