• формат djvu
  • размер 5.52 МБ
  • добавлен 12 июля 2010 г.
Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности
М., Мир, 1989. -564с. В книге излагаются физические основы более двадцати современных методов исследованния поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д. ).
Похожие разделы
Смотрите также

Крылова Т.Н. Интерференционные покрытия. Оптические свойства и методы исследования

  • формат djvu
  • размер 2.24 МБ
  • добавлен 30 сентября 2011 г.
Л.: "Машиностроение", 1973. - 224 с. Оглавление. Интерференция света в поверхностной пленке. Просветляющие покрытия. Покрытия, повышающие отражение. Отражение света от поверхности стекла с пленкой при различных углах падения. Поляризация света, отраженного интерференционной пленкой, вклеенной в стекло. Методы нанесения прозрачных покрытий и их практическое применение. Методы исследования оптических свойств интерференционных покрытий.

Кузьмичева Г.М. Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть 1

  • формат pdf
  • размер 647.99 КБ
  • добавлен 30 июля 2011 г.
Учебное пособие. - Москва, МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2005. - 90 с. Данное учебное пособие является дополнением к существующим учебникам по рентгенографическим методам исследования и отражает читаемый курс лекций для студентов 3 курса по дисциплине "Методы исследования фазового состава и структуры" (бакалавриат 071000 «Материаловедение и технология новых материалов») и курсам лекций для студентов очной формы обучения 5 курса по дисциплинам "Метод...

Кузьмичева Г.М. Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть 2

  • формат pdf
  • размер 885.29 КБ
  • добавлен 30 июля 2011 г.
Учебное пособие. - Москва, МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2006. - 88 с. Данное учебное пособие является дополнением к существующим учебникам по рентгенографическим методам исследования и отражает читаемый курс лекций для студентов 3 курса по дисциплине "Методы исследования фазового состава и структуры" (бакалавриат 071000 «Материаловедение и технология новых материалов») и курсам лекций для студентов очной формы обучения 5 курса по дисциплинам "Метод...

Кульментьев А.И., Кульментьева О.П. Методы анализа поверхности твердых тел

  • формат pdf
  • размер 2.06 МБ
  • добавлен 05 августа 2011 г.
Сумы: СумГУ, 2008. - 158 с Пособие содержит материалы лекций по дисциплине "Приборы и методы анализа твердых тел". Изложены фундаметальные вопросы об атомной структуре, особенностях электронной подсистемы и композиционном составе поверъхностей твердых тел. Описаны физическая и химическая адсорбция. Показана взаимосвязь между электронными, атомными и молекулярными процессами, происходящими на поверхности твердого тела и в адсорбционной фазе. Прив...

Курсовая работа - Сканирующий зондовый микроскоп СЗМ

Курсовая работа
  • формат doc
  • размер 2.86 МБ
  • добавлен 04 января 2011 г.
БГТУ, 2008, 40 стр Введение Историческая справка Принципы работы сканирующего зондового микроскопа Сканирующие элементы (сканеры) зондовых Сканирующие элементы Нелинейность пьезокерамики Крип пьезокерамики и гистерезис пьезокерамики Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца Механические редукторы Шаговые электродвигатели Шаговые пьезодвигатели Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий Защита от вибраций Защита от акустиче...

Лекции - Современные методы исследования конденсированных материалов

Статья
  • формат pdf
  • размер 1.71 МБ
  • добавлен 20 марта 2011 г.
2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника. Содержание Основные понятия. Методы изучения электрических характеристик. Измерение удельного сопротивления. Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления...

Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии

  • формат pdf
  • размер 3.17 МБ
  • добавлен 02 февраля 2010 г.
Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. Российская академия наук, Институт физики микроструктур - г. Нижний Новгород, 2004 г. Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое...

Петухов В.Ю., Гумаров Г.Г. Исследование поверхностных слоев твердых тел методом скользящего рентгеновского пучка

  • формат pdf
  • размер 288.54 КБ
  • добавлен 21 ноября 2011 г.
Казань: КазГУ, 2009. - 16 с. Учебно-методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». Рассмотрены вопросы послойного исследования объектов с помощью рентгеноструктурного анализа. Кратко даны общие принципы реализации метода скользящих рентгеновских лучей, приведено описание установки и порядок выполнения работы на приборе. Предложено выполнить некоторые пра...

Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок

  • формат djvu
  • размер 2.56 МБ
  • добавлен 14 августа 2010 г.
Пер. с англ. — М.: Мир, 1989. — 344 с, ил. Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на вы...

Чечерников В.И. Магнитные измерения

  • формат djvu
  • размер 4.56 МБ
  • добавлен 15 октября 2010 г.
В учебнике рассматриваются методы исследования магнитных свойств ферромагнитных веществ в постоянных и переменных магнитных полях, а также методы исследования слабомагнитных веществ. Основное внимание уделено описанию прецизионных методов измерения, которые находят широкое применение в научно-исследовательской практике. В книге также имеется раздел, где излагаются промышленные методы испытания магнитных материалов. Издание рассчитано на студе...