
металль| 
как 
никель, 
кобальт' 
х{еде3о 
плавятся 
при 
температуре
1455-1б35. 
с 
" 
,й"'" 
температуру 
''9Ё*р'"',';1?ч11 
' 
42о-
450" 
с. 
\аропронн,!Б 
",,,,,' 
на 
никелевой 
оёнове 
с 
температурами
плавления 
1350-1;00' 
€ 
имеют 
температуру 
рекристалл-:"1зат.\и|1
1]Ё6!,1}?"?'о]}ооъ^ё- 
3то 
указьтвае1_на 
т6, 
что 
легирование 
ме-
таллов 
ока3ь1вает 
сильное 
влияние 
на 
3амедление 
диффузионнь1х
пооцессов' 
в 
том 
числе 
процессов' 
'*"'йй!'* 
с 
рекристаллизацией_
' 
|]ри 
',р.д.'.,йи-_Ёптимальной 
температурьт 
диффуз:тоннои
сварки 
материалов' 
по 
аналогии 
с'- 
у:<азанной 
3ависимостью
А. 
А. 
Боявара 
для 
рекристалли3ш{'ии- 
автооом 
бьтло 
вьтсказано
предполох{ение' 
'"о' 
оп'""мальЁ1ая'Ё*,Бр{'ура 
дифузионной
сварки 
составляет 
_ 
',р*д"'*,"ую 
часть 
температурь1 
плавле[1ия
ка)кдого 
металла' 
'' 
Ё" 
т,,|т,-,:= 
ч|'1'
Анализ 
''..,.рй*",талБнь!}! 
значений 
температурь1 
сварки
по3волил 
,''.,','"], 
,!' 
,р",'денное 
отно]1]ение 
находится 
в 
пре_ 
'
делах 
т,,|т,,:0'53+-0'36'
@птимальное 
соотно1пение' 
по 
мнен1{ю 
автора' 
составляет
[',: 
0,7т,,'
|1ри 
ттали'лии 
не}келательнь{х 
структурнь1х 
и3менений 
темпе-
ратуру 
сварки 
*й,' 
сни3ить 
при 
соотйётствующем 
увеличении
продол>кит"',,'"'Ё'Ё,йЁ;;;;' 
ЁР 
'_""л*'ь1е 
автором 
в 
послед-
нее 
время 
исследования 
пока3ал'' 
:1' 
температуру 
сварки 
мо)кно
"низйть 
до 
0,2-0,47,, 
Аля 
многих 
металлов 
!|езависимо 
от 
типа
ре1шетки. 
при 
этом 
нЁобходимо 
обеспечить 
соответствующу1о 
вь1_
сокую 
очистку 
свариваемь1х 
поверхностей, 
увеличить 
степень
;;:Ё*;, 
д?:о,;]:0-в 
мм 
рт. 
ст., 
давление 
и 
продол)кительность
сварки' 
п^о4цпс  сваонь|х 
соединений. 
Бьтбор. 
методов
йетод' 
исследования 
сварнь|х 
(
исследования 
сварнь1х 
..соединен_ии 
прй 
диффузионной 
сварке
определяет." 
.,"йй1;йкой 
изунаемых 
явлений 
и 
состоянием 
совре_
меннь1х 
методик. 
_й!''д"', 
нап-тедшие 
широкое 
практическое 
при-
менение  ,'" 
""]Ё."Ёй;;"^'йыфузионнь!х 
соединений: 
металло_
графивеско. 
",,Ё^фййо-микР_'сйпическое 
исследования; 
спект_
ральньтй, 
*"'.р'р",|'е!1оспектральньтй 
и 
рентгеноструктурнь1и'
анализь1; 
метод 
р!дй',*'",нь{х 
индикаторов; 
и3мерение 
микро_ 
-
твердости; 
',р..ЁЁЁ#й]"й"*_*,.ских 
свойств 
при 
ни3ких 
и 
вь1_
соких 
температурах; 
испь1тание 
19 
длительную 
прочность 
и 
пол-
3учесть 
"'"д"""Ё'"{ 
""'ед','ния 
термостойкости 
и 
корро3ион_'
ной 
стойкости 
соединения 
и 
др'
@дн 
о 
из 
'.' 
']й]'?'!;й;;й'й' 
п 
р 
едъя 
вля 
емь1 
х 
к 
л 
р^имен 
я 
емь1м
методам' 
_ 
локальнос'! 
и, 
в 
свя3и 
с'''"м, 
для 
получения 
досто_
верной 
картинь1 
;^';|Бу;;;;н 
ой 
зоньт 
_ 
н 
еоб 
ходимость 
пр 
имен 
ен 
ия
нескольких 
способов'
}1икроструктурньтй 
анализ 
по3воляет 
определять 
число' 
ра3_
мерь1, 
форму, 
взаимное 
располо}кение 
и 
количественное 
соотно_
40
1пение 
фаз 
и 
структурнь{х 
состав.цяющих.  }1аль:е 
размерь1 
пере_
ходной 
зонь|' 
возникновение 
ступеньки 
на птлифе  при 
боль:-пом
ра3л;1ч;1|4 
механических 
свойств, 
ра3личие 
электрохимических
свойств 
3атрудняют  и3учение 
3оньт соединения 
с помощью 
обьтч-
ного 
оптического микроскопа.  Ёесколько 
облегчается 
3адача
при 
применении 
маль]х 
скоростей гплифования' 
}кестких 
алмазнь1х
кругов 
и 
теплового травления.  ,[{окальность 
анали3а 
определяется
ра3решающей 
способностью  оптических 
микроскопов 
с наиболь_
шим 
увеличением 
1500.
3лектронно-микроскопическое 
и3учение 
топографии 
поверх_
ности 
обеспечивает 
гораздо более  вь:сокую 
локальность  (увели_
чение 
до 
40 
000), однако и3готовлять 
реплики 
и 
фольги 
очень
слох{но' 
а иногда 
нево3мох{но' 
например 
для 
изучения  переходной
зонь! 
некоторь1х 
ра3нороднь1х 
металлов.
€ 
помощью сканирующего электронного 
микроскопа топогра-
фии 
поверхности  и3учают 
путем сканирования 
острофокусньтм
электроннь1м 
пучком  по принципу электронн0го 
растра. 
3лек-
тро!;ь|' 
либо отра>кеннь1е'  либо вторично  эмиттированнь1е 
за счет
возбу>кдения 
первичнь1ми 
электронами' 
слу}кат  сигналом.  Р1зме-
нение 
сигнала 
на 
поверхности  образца  образует 
(электронную
тень) поверхности. Б сканирующем микроскопе 
удалось 
преодо-
леть недостаток  световой  и электронной микроскопии  просвечи_
вающего типа, 
ибо 
сканирующий 
микроскоп имеет  в 30 
раз 
боль-
шую, 
чем световой  микроскоп,  глубину 
фокуса, 
не требуется
и3готовления 
фольг 
и 
реплик. 
|1рактинески 
любой 
металлографи-
ческий 
тплиф 
или и3лом 
диаметром 
12 мм 
и 
толщиной 
до 
3 мм
мо)кно 
наблюдать в этом микроскопе  при 
увеличении 
80 
000_
20 
000.
|1рименение 
электронного  микроскопа в 
сочетании  с 
металло_
графинеским 
по3воляет всесторонне и3учать  процессь1'  протекаю_
щие 
при 
диффузионной 
сварке. |!ри больших 
увеличениях 
луч1пе
виднь1 
следь| 
пластической 
деформации' 
происходящей  при боль_
ших 
давлениях. 
{орошо 
виден переход 
одной ориентировки
в 
другую 
в 
3оне качественного  соединения. 
!,орогпо 
раскрь]ваются
поАРобности 
строения 
диффузионного 
слоя и основнь1х 
металлов.
.11рямое 
наблюдение, 
фотографирование 
и 
киносъемку 
и3мене-
ний 
структурь1 
при 
нагреве' 
охла>кдении  и соответствующей 
вы-
дер)кке 
мо)кно 
проводить 
на 
установках 
вь1сокотемпературной
металлографии. 
Ёекоторьте 
фирмьт 
- 
американская 
к}нитрон>,
японская 
<}нион> 
и австрийская 
<Рейхерт) 
вь1пускают  их в 
виде
ва1уумнь!х 
камер 
с 
нагревателем. 
1{амеру 
устанавливают 
на обьтч_
нь]и 
металлографинеский 
микроског1 
со специальнь|м 
длиннофо_
куснь|м 
объективом. 
Фтечественнь1е 
установки 
снаб>кень1 
микро_
с'копом 
и 
устройством 
для 
растя)кения 
образцов. ||рактинеское
увеличение 
установок 
х500, во3мо)кно  наблюдение 
в 
светлом
и 
темном 
поле' 
косом 
освещении 
и 
фазовом 
контрасте.
,,''']']е''д 
измерения 
микротвердости 
на 
приборе  пмт-3 
- 
такх(е
1цироко 
распространенньтй  мётод 
для 
и1унейия 
диффузионньтх
4\