• формат pdf
  • размер 2.06 МБ
  • добавлен 05 августа 2011 г.
Кульментьев А.И., Кульментьева О.П. Методы анализа поверхности твердых тел
Сумы: СумГУ, 2008. - 158 с
Пособие содержит материалы лекций по дисциплине "Приборы и методы анализа твердых тел". Изложены фундаметальные вопросы об атомной структуре, особенностях электронной подсистемы и композиционном составе поверъхностей твердых тел. Описаны физическая и химическая адсорбция. Показана взаимосвязь между электронными, атомными и молекулярными процессами, происходящими на поверхности твердого тела и в адсорбционной фазе. Приведена классификация существующих методов анализа и рассмотрена электронная оже-спектроскопия, имеющая высокую поврхностную чувствительность. Показано, как этот метод вместе с ионным распылением можно использовать для профилирования по глубине. Для студентов высших учебных заведения, обучающихся по специальностям направления "Электронные приборы и системы".
Читать онлайн
Похожие разделы
Смотрите также

Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности

  • формат djvu
  • размер 5.52 МБ
  • добавлен 12 июля 2010 г.
М., Мир, 1989. -564с. В книге излагаются физические основы более двадцати современных методов исследованния поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д. ).

Иванов С.А., Щукин Г.А. Рентгеновские трубки технического назначения

  • формат djvu
  • размер 2.24 МБ
  • добавлен 06 сентября 2010 г.
Л.: Энергоатомиздат. Ленингр. отд-ние, 1989. — 200 с: ил. Рассмотрены особенности конструкции, параметры и характеристики, методы расчета основных параметров рентгеновских трубок для просвечивания материалов, рентгсноспектрального, рептгеноструктурного анализа, технологических целей. На основе анализа особенностей применения трубок в различных областях науки и техники изложены основные требования к трубкам и пути к выполнению этих требований. Для...

Крылова Т.Н. Интерференционные покрытия. Оптические свойства и методы исследования

  • формат djvu
  • размер 2.24 МБ
  • добавлен 30 сентября 2011 г.
Л.: "Машиностроение", 1973. - 224 с. Оглавление. Интерференция света в поверхностной пленке. Просветляющие покрытия. Покрытия, повышающие отражение. Отражение света от поверхности стекла с пленкой при различных углах падения. Поляризация света, отраженного интерференционной пленкой, вклеенной в стекло. Методы нанесения прозрачных покрытий и их практическое применение. Методы исследования оптических свойств интерференционных покрытий.

Машкова Е.С. Молчанов В.А. Применение рассеяния ионов для анализа твердых тел

  • формат djvu
  • размер 5.06 МБ
  • добавлен 24 марта 2011 г.
Энергоатомиздат, 1995. 176 с. Табл. .2, Ил. .80, Библиогр. : 133 назв. Впервые систематизированы исследования, относящиеся к применению ионно-рассеивательной спектроскопии и спектроскопии атомов отдачи для анализа объемных и поверхностных свойств твердых тел. Рассматриваются физические основы этих методов. Приведена типичная аппаратура, результаты исследования состава, атомной структуры, морфологии и динамических свойств твердых тел. Издание подг...

Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии

  • формат djvu
  • размер 7.37 МБ
  • добавлен 19 июня 2010 г.
М., Техносфера 2005 г. 144 стр. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силов...

Никитина Е.А. Рентгенографическое исследование и компьютерное моделирование углеродных материалов

  • формат pdf
  • размер 479.47 КБ
  • добавлен 09 сентября 2010 г.
Петрозаводск: НОЦ"Плазма", 2003. – 22 с. Проанализированы возможности рентгеноструктурного анализа в исследовании атомной структуры углеродных материалов. Показано, что методы рентгенографического анализа и компьютерного моделирования позволяют извлекать достаточно большую информацию о структурном состоянии вещества. Кроме того, могут позволить контролировать чистоту протекания этапов технологического процесса синтеза углеродных материалов.

Петухов В.Ю., Гумаров Г.Г. Исследование поверхностных слоев твердых тел методом скользящего рентгеновского пучка

  • формат pdf
  • размер 288.54 КБ
  • добавлен 21 ноября 2011 г.
Казань: КазГУ, 2009. - 16 с. Учебно-методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». Рассмотрены вопросы послойного исследования объектов с помощью рентгеноструктурного анализа. Кратко даны общие принципы реализации метода скользящих рентгеновских лучей, приведено описание установки и порядок выполнения работы на приборе. Предложено выполнить некоторые пра...

Сухов Л.Т. Лабораторный практикум по оптике

Практикум
  • формат pdf
  • размер 2.41 МБ
  • добавлен 28 сентября 2011 г.
Красноярск, Институт Инженерной Физики и Радиоэлектроники (СФУ), Физический факультет Кафедра общей физики, 2007. - 263 с. Интерференция и когерентность Изучение интерференции света на установке с бипризмой Френеля Определение длины волны излучения ртути с помощью бипризмы Френеля Кольца Ньютона Интерференционный метод контроля чистоты обработки поверхности Дифракция Изучение дифракции Фраунгофера Изучение фазовой дифракционной решетки Изучение...

Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок

  • формат djvu
  • размер 2.56 МБ
  • добавлен 14 августа 2010 г.
Пер. с англ. — М.: Мир, 1989. — 344 с, ил. Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на вы...

Шейндлин А.Е. (под общ. ред.) Излучательные свойства твердых материалов

Справочник
  • формат djvu
  • размер 7.36 МБ
  • добавлен 14 августа 2010 г.
Справочник. М., «Энергия», 1974. - 472 с. с ил. Книга посвящена анализу методов экспериментального исследования интегральной излучательной способности, монохроматической излучательной способности, отражательной и пропускательной способности твердых материалов, в ней обобщены излучательные характеристики на основании данных, имеющихся в литературе и полученных авторами. В книге рассмотрены оценки эффективной излучательной способности различных мод...