• формат djvu
  • размер 3.76 МБ
  • добавлен 21 марта 2011 г.
Мюллер Э.В., Цонг Т.Т. Полевая ионная микроскопия
М.: «Наука», 1980 г. , 220 стр.
Монография отражает новейшие достижения полевой ионной (автоионной) микроскопии - единственной методики, обеспечивающей прямое наблюдение атомов поверхности твердого тела. Впервые подробно описан атомный зонд — прибор, позволяющий определять химическую природу и пространственное положение любого из атомов образца. Рассмотрены явления полевой ионизации, полевого испарения, лежащие в основе работы полевого ионного микроскопа и атомного зонда. Обсуждены научные приложения полевой ионной микроскопии и атомного зонда. Книга написана ведущими в мире специалистами по полевой ионной микроскопии:
основателем этой методики профессором Э. Мюллером и профессором Т. Цонгом.
Краткое содержание:
Новые приборы и методики: усиление яркости изображения, атомный зонд.
Полевая ионизация и процесс изображения: основной физический механизм, теория полевой ионизации, адсорбция благородных газов, энергетическое распределение.
Полевое испарение: основной механизм, модель сил изображения, скорость испарения.
Некоторые приложения: поверхностная диффузия, атомная реконструкция поверхности.
Дополнение.
Похожие разделы
Смотрите также

Берман Г.П., Боргонови Ф., Горшков В.Н., Цифринович В.И. Магнитно-резонансная силовая микроскопия и односпиновые измерения

  • формат djvu
  • размер 8.5 МБ
  • добавлен 14 августа 2011 г.
Москва-Ижевск: R&C Dynamics, 2010, 196 с. ISBN 978-5-93972-811-9. Мaгнитно-резонансная силовая микроскопия (МРСМ) - быстро развивающаяся область, которая зародилась в 1990-e гoды и не так давно достигла зрелости, объявив о первой регистрации спина единичногo электрона, находящегoся внутри непрозрачногo твердогo вещества. Дальнейшее развитие методов МРСМ окажет oгpoмнoe влияние на многие отрасли науки и техники, включающие физику, химию, биол...

Вайнштейн Б.К. Электронная микроскопия атомного разрешения

Статья
  • формат pdf
  • размер 2.99 МБ
  • добавлен 04 ноября 2011 г.
Статья. Опубликована в Успехах Физических Наук (Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН) - 1987 г. Май. - Том 152, вып. 1 - с. 75-122 УДК 537.533.35 Электронно микроскопическое изображение. Рассеяние электронов объектом. Кинематическое приближение. Дифракция от кристалла. Функция прохождения. Изображение. Фазовый и амплитудный контраст. Передаточная функция. Светлопольное изображение. Темнопольное изображение. Микродифракция. Просве...

Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности

  • формат djvu
  • размер 5.52 МБ
  • добавлен 12 июля 2010 г.
М., Мир, 1989. -564с. В книге излагаются физические основы более двадцати современных методов исследованния поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д. ).

Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия

  • формат pdf
  • размер 36.5 МБ
  • добавлен 20 мая 2010 г.
М: Мир, 1978, 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков...

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 2

  • формат djv
  • размер 9.16 МБ
  • добавлен 13 июля 2010 г.
349 с. 1984 г. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов и т. д. Книга представляет интерес для физиков, химиков, материал...

Заблоцкий А.В., Тимофеев А.А., Коростылёв Е.В., Кузьмин А.А. Электронная микроскопия в нанодиагностике

  • формат pdf
  • размер 12.75 МБ
  • добавлен 04 ноября 2011 г.
Учебное пособие. - М.: Издательство МФТИ, 2011. - 144 с. Целью данного пособия является ознакомление основными методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, устройством и принципом работы микроскопов и формированием изображении электронно-оптической системой. Читатели ознакомятся со способами интерпретации изображений, спектров характеристического рентгеновского излучения, спектров катодолюминесценции, расшифровки картин дифракции...

Лекции - Современные методы исследования конденсированных материалов

Статья
  • формат pdf
  • размер 1.71 МБ
  • добавлен 20 марта 2011 г.
2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника. Содержание Основные понятия. Методы изучения электрических характеристик. Измерение удельного сопротивления. Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления...

Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии

  • формат djvu
  • размер 7.37 МБ
  • добавлен 19 июня 2010 г.
М., Техносфера 2005 г. 144 стр. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силов...

Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии

  • формат pdf
  • размер 3.17 МБ
  • добавлен 02 февраля 2010 г.
Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. Российская академия наук, Институт физики микроструктур - г. Нижний Новгород, 2004 г. Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое...

Хейденрайх Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии

  • формат pdf
  • размер 20.42 МБ
  • добавлен 27 февраля 2011 г.
М., "Мир", 1966. Электронная микроскопия является одним из мощных методов научного исследования и в настоящее время плодотворно применяется в физике, химии, биологии, технике. Предлагаемая книга извеетного американского физика Р. Хейденрайха посвящена теории просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии. В ней систематически изложены теоретические основы методов получения изображения кристаллических и аморфных объектов. Подробно рас...