Справочник
  • формат pdf
  • размер 9.88 МБ
  • добавлен 10 января 2011 г.
Reilly D., Ensslin N. and Smith H.Jr. Passive Nondestructive Assay of Nuclear Materials
Издательство неизвестно, 1999, - 717 стр.

Представляемая российскому читателю книга является результатом сотрудничества между Всероссийским научно-исследовательским институтом автоматики (ВНИИА, РФ), Ливерморской национальной лабораторией им. Лоуренса (ЛЛНЛ, США) и Лос-Аламосской национальной лабораторией (ЛАНЛ, США) по изданию русскоязычной версии книги .Passive Nondestructive Assay of Nuclear Materials. (известной как PANDA), осуществляемого при поддержке Отдела международного сотрудничества в области защиты, контроля и учета ядерных материалов Министерства энергетики США.
Англоязычное издание было подготовлено в 1991 г. коллективом признанных американских специалистов под руководством Научно-технической группы ЛАНЛ по гарантиям на основании контракта с КомиссиейСШАпо ядерному регулированию (КЯР) и выпущено в серии отчетов Комиссии под номером NUREG/CR-
5550. Редакторами издания были Хэйстингс Смит, Норберт Энсслин и Дуглас Райлли. Монография логичным образом завершила комплекс работ, проводимых ученымиСШАи Европы в области контроля ядерных материалов с сохранением их целостности и структуры. Центральной идеей такого контроля является отсутствие вмешательства в измеряемый образец и, насколько это возможно, в технологический процесс. Монография описывает международный, национальный и, одновременно, неинтрузивный подход к обеспечению контроля, учета и, следовательно, нераспространения ядерных материалов. Она признана классической энциклопедией по измерениям характеристик ядерных материалов и используется в качестве соответствующего справочного пособия для англоязычных специалистов на предприятиях ядерного топливного цикла. Мы надеемся, что эта книга станет справочником также и для специалистов российских институтов, предприятий, а также для разработчиков и поставщиков приборного обеспечения СЗУиК ЯМ.
Российские специалисты ознакомились с книгой в 1993 г. Выяснилось, что аналогичной русскоязычной энциклопедии нет. Поэтому в 1994-1995 гг. группа специалистов ВНИИА выполнила рабочий перевод книги, который использовался в первую очередь для обучения. В то же время стало очевидно, что необходимо возможно более широкое распространение русскоязычного варианта книги среди специалистов стран СНГ. Руководители программы СЗУиК ЯМ ВНИИА неоднократно обсуждали с менеджерами ЛАНЛ и ЛЛНЛ проект перевода книги PANDA. И наконец, в 1999 г. благодаря усилиям Вэйна Рютера (ЛЛНЛ) была получена поддержка Министерства энергетики США в рамках программы СЗУиК ЯМ, а ЛАНЛ получил у КЯР разрешение на подготовку российской версии книги во ВНИИА.
Похожие разделы
Смотрите также

Ayache J., Beaunier L., Boumendil J., Ehret G., Laub D. Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy. Methodology

  • формат pdf
  • размер 8.23 МБ
  • добавлен 27 января 2011 г.
Springer, 2010, 250 p. Methodology: General Introduction Introduction to Materials The Different Observation Modes in Electron Microscopy (SEM, TEM, STEM) Materials Problems and Approaches for TEM and TEM/STEM Analyses Physical and Chemical Mechanisms of Preparation Techniques Artifacts in Transmission Electron Microscopy Selection of Preparation Techniques Based on Material Problems and TEM Analyses Comparisons of Techniques Conclusion: What Is...

Berakdar J., Kirschner J. (Eds.) Correlation Spectroscopy of Surfaces, Thin Films, and Nanostructures

  • формат pdf
  • размер 6.18 МБ
  • добавлен 18 февраля 2011 г.
WILEY-VCH, 2004, 238p. A First-Principles Scheme for Calculatingv the Electronic Structure of Strongly Correlated Materials: GW+DMFT A Many-body Approach to the Electronic and Optical Properties of Copper and Silver Correlation Spectroscopy of Nano-size Materials Electron–Electron Coincidence Studies on Atomic Targets: A Review of (e,2e) and (e,3e) Experiments Studying the Details of the Electron–Electron Interaction in Solids and Surfaces Two-El...

Chao A., Tigner M. Handbook of Accelerator Physics and Engineering

  • формат pdf
  • размер 53.1 МБ
  • добавлен 10 марта 2011 г.
World Scientific, 1999.740 p. ISBN: 9810235003 Concerned with the design and operation of modern accelerators including linacs, synchrotrons and storage rings, this text includes both theoretical and practical matters. Chapters on beam dynamics and electromagnetic and nuclear interactions deals with linear and nonlinear single particle and collective effects including spin motion, beam-environment, beam-beam and intrabeam interactions. The impe...

Czanderna A.W., Powell C.J., Madey T.E. (Eds.) Specimen Handling, Preparation, and Treatments in Surface Characterization

  • формат pdf
  • размер 2.35 МБ
  • добавлен 27 января 2011 г.
Kluwer Academic Publishers, 2002, 302 p. Ultrahigh Vacuum and Vacuum Compatibility of Materials Cryogenic Sample Transfer for Preservation of Surface Chemistry Specimen Handling: Cleaning and Processing Atomically Clean Surfaces of Elemental Solids Specimen Treatments: Surface Preparation of Metal Compound Materials (Mainly Oxides) In Situ Processing by Gas or Alkali Metal Dosing and by Cleavage Chemical Modification of Surfaces Physical and C...

Debertin K. and Helmer R. Gamma - and X-ray spectrometry with semiconductor detector

  • формат pdf
  • размер 21.4 МБ
  • добавлен 15 января 2011 г.
North-Holland, Amsterdam, 1988, 399 p., (анг. яз. ) The advent of germanium and silicon detectors in the 1960's has revolutionized gamma- and X-ray spectrometry. The excellent energy resolution of these semiconductor detectors has been the basis for rapid and sometimes step-like progress. Today there is scarcely a field in natural science to which spectrometry with semiconductor detectors has not gained entry. The authors estimate that worldwide...

Neutron Imaging: A Non-Destructive Tool for Materials Testing

  • формат pdf
  • размер 2.82 МБ
  • добавлен 19 февраля 2011 г.
IAEA, Report of a coordinated research project 2003–2006, Vienna, 2008 Neutron radiography is a powerful tool for non-destructive testing of materials for industrial applications and research. The neutron beams from research reactors and spallation neutron sources have been extensively and successfully used for neutron radiography over the last few decades. The special features of neutron interaction with matter make it possible to inspect bulk...

Reilly D., Ensslin N. and Smith H.Jr. Passive Nondestructive Assay of Nuclear Materials

  • формат pdf
  • размер 44.2 МБ
  • добавлен 10 января 2011 г.
U.S. Nuclear Regulatory Commission, Washington, DC 20555, NRC FIN A724, 1991, -700p. (Анг. яз. ) This book is a general reference on the theory and application of PAssive NonDestructive Assay (NDA) techniques, or PANDA. It is part of a four-volume set on nuclear material measurement and accountability sponsored by the US Nuclear ,Regulatory Commission (NRC). Although we discuss a few active NDA techniques, they have been treated in detail in an...

Signal Processing and Electronics for Nuclear Spectrometry

  • формат pdf
  • размер 1.97 МБ
  • добавлен 19 февраля 2011 г.
IAEA, Proceedings of a Technical Meeting Vienna, 20–23 November 2007 All nuclear spectrometry systems contain electronic circuits and devices, commonly referred to as front-end electronics, which accept and process the electrical signals produced by radiation detectors. This front-end electronics are composed of a chain of signal processing subsystems that filter, amplify, shape, and digitise these electrical signals to finally produce digitally...

Williams D.B., Carter C.B. Transmission Electron Microscopy. Textbook for Materials Science. I. Basics

  • формат pdf
  • размер 24.81 МБ
  • добавлен 26 ноября 2010 г.
1996, 1-173 p. Первая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single volum...

Williams D.B., Carter C.B. Transmission Electron Microscopy. Textbook for Materials Science. II.Diffraction

  • формат pdf
  • размер 18.29 МБ
  • добавлен 26 ноября 2010 г.
1996, 177-347 p. Вторая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single vol...