• формат djvu
  • размер 10.05 МБ
  • добавлен 08 августа 2010 г.
Вайнштейн Б.К. Структурная электронография
М: Изд-во АН СССР, 1956, 342с
Наряду с классическим методом анализа атомной структуры кристаллов — рентгенографией — все большее значение приобретают в настоящее время другие диффракционные методы: электронография и нейтронография. При помощи электронографического метода могут решаться как некоторые общие вопросы структурного анализа, доступные двум другим методам, так и специальные задачи, рентгенографическое (или нейтроиографическое) изучение которых затруднительно или вообще невозможно.
Похожие разделы
Смотрите также

Бацанов С.С. Структурная рефрактометрия

  • формат djvu
  • размер 5.79 МБ
  • добавлен 11 января 2011 г.
Учеб. пособие для вузов. Изд. 2-е, перераб. и доп. М., «Высш. школа», 1976. 304 с. с ил. В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве; показаны возможности определения геометрической изомерии, координации и длин связей атомов, опи...

Вайнштейн Б.К. Электронная микроскопия атомного разрешения

Статья
  • формат pdf
  • размер 2.99 МБ
  • добавлен 04 ноября 2011 г.
Статья. Опубликована в Успехах Физических Наук (Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН) - 1987 г. Май. - Том 152, вып. 1 - с. 75-122 УДК 537.533.35 Электронно микроскопическое изображение. Рассеяние электронов объектом. Кинематическое приближение. Дифракция от кристалла. Функция прохождения. Изображение. Фазовый и амплитудный контраст. Передаточная функция. Светлопольное изображение. Темнопольное изображение. Микродифракция. Просве...

Русаков. Рентгенография металлов

  • формат djvu
  • размер 7.14 МБ
  • добавлен 03 ноября 2009 г.
Физика рентгеновских лучей. Рентгенотехника. Структурная кристаллография. Интерференция рентгеновских лучей, рассеянных кристаллами. Методы рентгеноструктурного анализа. Использование рентгеновских лучей в исследовании металлов и сплавов.

Утас Т.В. Количественный анализ атомной структуры поверхности фаз на кремнии с помощью сканирующей туннельной микроскопии

Дисертация
  • формат pdf
  • размер 10.36 МБ
  • добавлен 30 июля 2011 г.
Диссертация. кандидата физико-математических наук ( 01.04.07. - физика конденсированного состояния). - Владивосток, 2006. - 166 с.: ил. Научная новизна работы. Работа содержит новые экспериментальные и методические результаты, наиболее важные из которых следующие: 1, Разработана методика определения плотности атомов кремния в верхнем атомном слое поверхностных структур. Определены условия, при которых данная методика дает результаты с минимальн...