• формат pdf
  • размер 7.49 МБ
  • добавлен 29 января 2012 г.
Кривовичев С.В. Практические вопросы рентгеноструктурного анализа. 2. Расшифровка и уточнение кристаллических структур в комплексе SHELX
Санкт-Петербург, Санкт-Петербургский государственный университет, 2007, 112 с.
В книге представлены основные принципы расшифровки и уточнения структур в программном комплексе SHELX. Данная книга является единственным издание на русском языке о программе SHELX.
Похожие разделы
Смотрите также

Бацанов С.С. Структурная рефрактометрия

  • формат djvu
  • размер 5.79 МБ
  • добавлен 11 января 2011 г.
Учеб. пособие для вузов. Изд. 2-е, перераб. и доп. М., «Высш. школа», 1976. 304 с. с ил. В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве; показаны возможности определения геометрической изомерии, координации и длин связей атомов, опи...

Горелик С.С. Рентгенографический и электроннооптический анализ, 2-е издание

  • формат pdf
  • размер 38.97 МБ
  • добавлен 19 октября 2009 г.
Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электрон- ной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояс- нения и изложен порядок выполнения задач. В приложении дан необходимый справочный материал. Книга предназначена для студентов м...

Китайгородский А.И. Как измеряются расстояния между атомами в кристаллах

Статья
  • формат rtf
  • размер 105.1 КБ
  • добавлен 31 января 2011 г.
Статья из журнала "Квант" №2, 1978 О рентгеноструктурном анализе атомной структуры кристаллов. В этой статье речь пойдет об атомной структуре кристаллов, под которой понимается узор, создаваемый центрами атомов. Задача этой статьи заключается в том, чтобы познакомить читателя с основными идеями рентгеноструктурного анализа и дать представление о дороге, следуя которой, можно определить структуру кристалла: измерить расстояния между атомами, дать...

Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ

  • формат djvu
  • размер 19.16 МБ
  • добавлен 19 января 2010 г.
1950. - 651 с. В книге излагаются проблемы современного рентгеноструктурного анализа: кристаллографические основы структурного анализа, получение рентгеновских лучей и взаимодействие их с веществом. Книга рассчитана на научных работников, инженеров, аспирантов и студентов-физиков и химиков старших курсов.

Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел

  • формат djvu
  • размер 11.98 МБ
  • добавлен 19 января 2010 г.
Книга является продолжением книги А. И. Китайгородского "Рентгеноструктурный анализ" (Гостехиздат, 1950) и посвящена применениям рентгеноструктурного анализа и исследованию аморфных и мелкокристаллических веществ. Книга рассчитана на широкий круг научных работников, работающих с разнообразными мелкокристаллическими и аморфными веществами, неправильными кристаллами, а также сложноструктурными веществами - каучуком, белками, целлулозой, жирными кис...

Ласица А.М. и др. Электростатика, постоянный ток и магнетизм

Практикум
  • формат doc
  • размер 317.16 КБ
  • добавлен 26 августа 2011 г.
Методические указания к лабораторным работам по физике. Омск: Изд-во ОмГТУ, 2009. - 60 с. Методические указания включают в себя описания лабораторных работ по физике к разделам «Электростатика», «Постоянный ток» и «Магнетизм». Работы выполняются на модульном учебном комплексе МУК–ЭМ 1. Предназначены для студентов дневной, вечерней и заочной форм обучения.rn

Никитина Е.А. Рентгенографическое исследование и компьютерное моделирование углеродных материалов

  • формат pdf
  • размер 479.47 КБ
  • добавлен 09 сентября 2010 г.
Петрозаводск: НОЦ"Плазма", 2003. – 22 с. Проанализированы возможности рентгеноструктурного анализа в исследовании атомной структуры углеродных материалов. Показано, что методы рентгенографического анализа и компьютерного моделирования позволяют извлекать достаточно большую информацию о структурном состоянии вещества. Кроме того, могут позволить контролировать чистоту протекания этапов технологического процесса синтеза углеродных материалов.

Петухов В.Ю., Гумаров Г.Г. Исследование поверхностных слоев твердых тел методом скользящего рентгеновского пучка

  • формат pdf
  • размер 288.54 КБ
  • добавлен 21 ноября 2011 г.
Казань: КазГУ, 2009. - 16 с. Учебно-методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». Рассмотрены вопросы послойного исследования объектов с помощью рентгеноструктурного анализа. Кратко даны общие принципы реализации метода скользящих рентгеновских лучей, приведено описание установки и порядок выполнения работы на приборе. Предложено выполнить некоторые пра...

Русаков. Рентгенография металлов

  • формат djvu
  • размер 7.14 МБ
  • добавлен 03 ноября 2009 г.
Физика рентгеновских лучей. Рентгенотехника. Структурная кристаллография. Интерференция рентгеновских лучей, рассеянных кристаллами. Методы рентгеноструктурного анализа. Использование рентгеновских лучей в исследовании металлов и сплавов.

Штольц А.К., Медведев А.И., Курбатов Л.В. Рентгеновский анализ микронапряжений и размера областей когерентного рассеяния в поликристаллических материалах

  • формат pdf
  • размер 298.88 КБ
  • добавлен 14 декабря 2011 г.
Екатеринбург. ГОУ?ВПО УГТУ?УПИ. 2005. 23 стр. Свойства конкретного поликристаллического материала или порошка из кристаллических зерен существенно зависят от размера кристалликов и от напряжений, возникающих в них. Обе характеристики материала зависят от условий получения материала и тех воздействий, которым данный материал подвергался. Роль таких воздействий могут играть, например, температура и механические воздействия. Оценить размер кристалл...