Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. –
Саратов, СГУ, 2006. - 23 с.
Учебное пособие представляет собой руководство к практическим
занятиям по курсу «Физика полупроводников». Содержит расширенное
описание материала, знание которого необходимо при выполнении
лабораторной работы по исследованию автоэлектронной эмиссии из
металлов и наноуглеродных материалов.
Для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и
микроэлектроника», специальностям «Физика твердого тела», «Физика»,
«Медицинская физика», «Материалы и компоненты твердотельной
электроники», «Микроэлектроника и полупроводниковые приборы»,
«Микроэлектроника и твердотельная электроника», «Нанотехнологии в
электронике».
Усанов Д.А., Яфаров Р.К. Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии
Похожие разделы
Смотрите также
Баранов А.В. и др. Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью
Учебное пособие. – СПб: СПбГУ ИТМО, 2009. - 186 с. Рассматриваются методы и техника исследования и диагностики наноразмерных объектов, включая электронную, атомно-силовую микроскопию, различные варианты люминесцентной микроскопии и техники КР, ближнепольную оптическую микроскопию, а также лазерную технику, используемую в физических экспериментах. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200600 Фотоника и оптоинформатик...
Горелик С.С. Рентгенографический и электроннооптический анализ, 2-е издание
Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электрон- ной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояс- нения и изложен порядок выполнения задач. В приложении дан необходимый справочный материал. Книга предназначена для студентов м...
Круглов А.В., Голубок А.О. Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография
Москва, НИИФП, ЗАО «НТ-МДТ». - 108 с. В данном учебном пособии представлены лабораторные работы, посвященные изучению методов сканирующей зондовой микроскопии, включая спектроскопические измерения и процессы литографии, а также их применение для исследований и модификации микро- и наноструктур. Учебное пособие предназначено для студентов старших курсов и магистратуры, обучающихся по специальностям: 20200 "Нанотехнология в электронике", 073800 "...
Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии
М., Техносфера 2005 г. 144 стр. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силов...
Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии
Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. Российская академия наук, Институт физики микроструктур - г. Нижний Новгород, 2004 г. Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое...
Мюллер Э.В., Цонг Т.Т. Полевая ионная микроскопия
М.: «Наука», 1980 г. , 220 стр. Монография отражает новейшие достижения полевой ионной (автоионной) микроскопии - единственной методики, обеспечивающей прямое наблюдение атомов поверхности твердого тела. Впервые подробно описан атомный зонд — прибор, позволяющий определять химическую природу и пространственное положение любого из атомов образца. Рассмотрены явления полевой ионизации, полевого испарения, лежащие в основе работы полевого ионного ми...
Томас Г., Гориндж М. Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов
М.: Наука, 1983. - 320 с. Книга известных зарубежных ученых Г. Томаса и М.Дж. Горинджа посвящена исследованию материалов методом просвечивающей электронной микроскопии. На основе новейших экспериментальных и теоретических данных изложены физические основы электронной микроскопии и дифракции электронов, теории контраста и динамической теории дифракции в применении к исследованию различных материалов, данные о реальной структуре кристаллов и матер...
Утас Т.В. Количественный анализ атомной структуры поверхности фаз на кремнии с помощью сканирующей туннельной микроскопии
Диссертация. кандидата физико-математических наук ( 01.04.07. - физика конденсированного состояния). - Владивосток, 2006. - 166 с.: ил. Научная новизна работы. Работа содержит новые экспериментальные и методические результаты, наиболее важные из которых следующие: 1, Разработана методика определения плотности атомов кремния в верхнем атомном слое поверхностных структур. Определены условия, при которых данная методика дает результаты с минимальн...
Шиммель Г. Методика электронной микроскопии
М., Изд-во «МИР», 1972, 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава, динамики (в том числе количественной оценки) разнообразных процессов....
Garcia R., Perez R. Dynamic atomic force microscopy metods
Surface Science Reports 47 (2002) р.197–301 journal homepage: www.elsevier.com/locate/surfrep Данный доклад посвящен основам, применению и перспективам развития динамической атомно-силовой микроскопии. Рассмотрены полуконтактная и бесконтактная моды атомно-силовой микроскопии.