
Мікронівелір
335 М
жних сторін лімба є продовженнями один
одного. Тоді відлічують шкалу мікрометра.
М. о. використовують у точних оптичних
теодолітах.
Дослідження М. о. складаються з дослі-
дження систематичної похибки шкали, п
о -
хибки діаметрів вертикального і гори-
зонтального кругів, визначення сер. кв. по-
хибки суміщення кінців зображень штри-
хів горизонтального і вертикального кру-
гів та дослідження рена М. о.
Причиною похибок шкали М. о. є невід-
повідність між переміщеннями його шка-
ли
в
різних місцях та зображеннями штри-
хів лімба, а також неправильне нанесення
поділок на шкалі. Для виявлення і визна-
чення цієї похибки вимірюють кут, що до-
рівнює 1/5 частині шкали мікрометра. Цей
кут вимірюють декількома прийомами на
різних ділянках шкали мікрометра.
Для
до-
слідження виготовляють візирну марку з
двох паралельних ліній завтовшки 0,2-
0,3 мм і встановлюють її на висоті теодо-
літа. Вимірявши віддаль від теодоліта до
марки, обчислюють віддаль між штриха-
ми марки так, щоб вимірюваний кут до-
рівнював 1/5 частині шкали мікрометра. У
теодоліті Т2 вимірюють кут 2' на п'яти
установленнях шкали мікрометра, а саме
0,2,4,6 і 8'. На кожному установленні кути
вимірюють двічі. В одному з них наводять
зорову трубу спочатку на лівий штрих, а
потім на правий,
а в
іншому - навпаки. Пе-
рехід до іншого установлення виконують
обертанням горизонтального круга. Обчис-
люють середнє значення кута із прийомів,
виконаних у прямому і зворотному напря-
мах. Відхилення їх від загального серед-
нього значення, отриманого з усіх вимірю-
вань, не мають перевищувати значення, за-
дане для кожного типу теодоліта. Для тео-
доліта
Т2
вони не мають перевищувати 1,5".
Коли відхилення більші, теодоліт слід ре-
монтувати.
Для дослідження точності суміщення кін-
ців зображень штрихів кругів, рівномірно
розташованих на всьому крузі, виконують
по два суміщення штрихів і після кожного
відлічують шкалу мікрометра. Під час до-
слідження горизонтального круга устано-
влення
на
крузі вибирають через 15°,
а
вер-
тикального - через 30°. Після цього обчи-
слюють різниці між парами відліків на ко-
жному установленні круга і сер. кв. похиб-
ку одного суміщення. Для горизонтально-
го круга в теодоліті Т2 вони не мають пе-
ревищувати 0,5', а для вертикального -
0,6'. 13.
МІКРОНІВЕЛІР {микронивелир; micro-
level; Mikronivellier
и):
прилад для вимірю-
вання малих перевищень під час монтаж-
них робіт, напр., у машинобудуванні (ви-
вірення напрямних, валів тощо). В ньому
є накладний рівень, установлений на жорст-
кій базі завдовжки 1-2 м, обладнаний дво-
ма-трьома нерухомими сферичними опо-
рами. На рамі розташовано два рівні: по-
здовжній з ціною поділки 2-Ю' і попереч-
ний з ціною поділки 30'. У мікронівелірі
МІІГАІК третя опора є рухомою і з'єднана
з індикатором. Під час нівелювання при-
лад встановлюють на конструкцію, приво-
дять
мікрометричним
гвинтом
рухомої опо-
ри бульбашку рівня на середину і відлічу-
ють шкалу індикатора. Потім переставля-
ють прилад на 180° і, привівши бульбаш-
ку рівня на середину, знову відлічують
шкалу індикатора. Піврізниця цих відліків
є перевищенням на станції. Значення ви-
мірюваного перевищення визначається діа-
пазоном роботи індикатора, і, як звичайно,
досягає
±5
мм. Чутливість індикатора
0,01—
0,001 мм. 1.
МІКРОСКОП (микроскоп; microscope;
Mikroskop
п):
оптична система для розгля-
дання предметів, зокрема поділок шкал. М.
складається з об'єктива та окуляра, кож-
ний з яких є складною оптичною систе-
мою. Предмет АВ, який розглядають, має
міститися між переднім фокусом і подвій-
ною фокусною віддаллю об'єктива. Об'єк-
тив будує дійсне, обернене і збільшене зоб-
раження А
]
В\ предмета, що розташоване
за подвійною фокусною віддаллю об'єк-
тива біля переднього фокуса окуляра. Ко-
ли М. використовують як відліковий при-