
174
ГЛ.
5.
ВОЛНОВАЯ
МЕХАНИКА
И
ФОРМИРОВАНИЕ
ИЗОБРАЖЕНИЯ
Здесь
dE
/dz I j -
тормозящая
способность
(см.
фиг.
75),
а
БЕ
j
-
энергия,
теряемая
в
одном
столкновении.
Различные
виды
процессов,
при
которых
электроны
теряют
энергию,
рассматриваются
в
гл.
6
на
основе
результатов,
получен
ных
в
данном
параграфе.
Здесь
же
мы
скажем
лишь,
что
при
столк
новениях
В
твердом
теле
падающий
электрон,
производящий
воз
буждение
или
ионизацию,
не
может
быть
локализован
в
пределах
одного
межа
томного
расстояния.
Если
падающий
электрон
теряет
энергию
более
1
эв,
то
это
можно
экспериментально
обнаружить,
и
в
таком
случае
с
полным
основанием
можно
пользоваться
мнимым
потенциалом
в
уравнении
Шредингера.
Для
потерь
же,
меньших
примерно
0,5
эв,
картина
не
ясна,
так
как
величина
потери
энергии
в
этом
случае
сравнима
с
тепловым
разбросом
для
65 %
электронов
падающего
пучка.
Поскольку
в
данном
случае
потери
невозможно
точно
определить
из-за
теплового
разброса,
такие
электроны
рассматриваются
как
упруго-рассеянные
и
мнимый
потенциал
в
уравнение
Шредингера
не
вводится.
ЛИТЕРАТУрА
1.
Stone
J.
N.,
Radiation
and
Optics, New York, 1963, ch. 11.
2.
Fuj
iwara
К.,
Journ.
Phys.
SOC.
Japan,
16,2226
(1961).
3.
L
е
i g h t
о
n R.
В.,
Princip1es
о!
Modern
Physics,
New York, 1959.
Р..
98.
4. R
'о
j
а
n s k
у
У.,
Introducing
Quantum
Mechanics, Eng1ewood Cliffs
(New
Jersey),
1946,
р.
25.
5.
von
L
а
u
е
М.,
Phys.
Rev.,
37, 53 (1931).
6.
С
о
w 1
е
у
J.
М.,
М
о
о
d i
е
А.
F.,
Acta
Cryst.,
10, 609 (1957).
7.
Marton
L.,
Phys.
Rev.,
85,1057
(1952).
8.
Marton
L.,
Simpson
J.A.,Suddeth
J.
А.,
Rev. Sci.
Instr.,
25, 1099 (1954).
9.
М
о
11
е
n s t
е
d t
G.,
D
ii
с
k
е
r
Н.,
Naturwiss.,
42,
41
(1955).
10. F
е
r t
С.,
F
а
g
е
t
J.,
IV.
Int.
Kongr. E1ektronenmikrQskopie,
Bd.
1,
Berlin,
1958, S. 234.
11.
Fert
С.,
Proc.
Int.
Conf. E1ectron Microscopy,
London,
1954,
р.
161.
12.
Mo11enstedt
G.,
Lenz
F.,
Journ.
PllYS.
SOC.
Japan,
17,
Suppl.
В-П,
183 (1962).
13.
В
u h 1
R.,
ZS.
PllYS., 155, 395 (1959).
14.
К
е
11
е
r
М.,
ZS.
Phys.,
164, 274 (1961).
15. F
е
r t
С.,
F
а
g
е
t
J.,
F
а
g
о
t
М.,
F
е
r r
е
J.,
J
ourn.
de Microscopie,
1, 1 (1962).
16. G
а
Ь
о
r
D.,
Proc. Roy. Soc.,
А197,
454 (1949).
17.
Н
а
i n
е
М.
Е.,
М u 1 v
е
у
Т.,
Journ.
Opt.
SOC.
Amer.,
42, 763 (1952).
18.
В
r
а
g g W.
L.,
The
Crystalline
State,
vo1.
1, I"ondon, 1949,
р.
229.
19.
Z
е
r n i k
е
F.,
Physica,
9, 974 (1942).
20.
Р
о
r t
е
r
А.
В.,
Phil.
Mag.,
11,154
(1906).
21.
М
а
r t i n L.
С.,
Proc.
Phys.
Soc., 43, 186 (1931).
22.
С
о
w 1
е
у
J.
М.,
М
о о
d i
е
А.
F.,
Proc.
PllYS.
Soc.,
В70,
486 (1957);
В70,
497 (1957);
В70,
505 (1957).
,
ЛИТЕРАТУРА
175
23.
В
о
r n
М.,
W
о
1 f
Е.,
Princip1es
о!
Physica1 Optics, New
York,
1959,
р.425.
24.
Haine
М.
Е.,
Coss1ett
У.
Е.,
Tlle E1ectron Microscope,
The
Present
State
о!
the
Art,
New
York,
1961,
р.
77.
25.
Bennett
А.
Н.,
Jupnik
А.,
Osterberg
Н.,
Richards
О.
W.,
Phase
Microscopy, New
York,
1951.
26.
К
а
n
а
у
а
К.,
К
а
w
о
k
а
t s u
Н.,
IV.
Int.
Kongr. E1ektronenmikro-
skopie, Bd.
1,
Berlin,
1958,
S.
3388.
27.
Faget
J.,Fagot
M.,Fert
C.,Proc.
European
Reg.Conf.E1ectron
Microscopy, vo1.
1,
Delft,
1960,
р.
18.
28.
Faget
J.,
Fagot
М.,
Ferre
J.,
Fert
С.,
Fifth
Int.
Congr.
E1ectron Microscopy,
vo1.
1,
А-7,
New
York,
1962.
29.
А
11
а
r
а
n
о
v
У.,
В
о
h m
D.,
Phys.
Rev.,
115,485
(1959).
30.
С
h
а
m
Ь
е
r s R.
G.,
Phys.
Rev.
Letters,
5, 3 (1960).
31.
Fow1er
Н.А.,
Marton
L.,
S
impsonJ.A.,Suddeth
J.A.
t
Journ.
Арр1.
Phys.,
32, 1153 (1961).
32.
В
о
r s
с
h
Н.,
Н
а
m i s
с
h
Н.,
G r
о
h m
а
n n
К.,
W
о
h
11
е
Ь
е
n
D.,
Zs.
Phys.,
165,79
(1961).
33.
В
а
у
h
W.,
ZS.
РЬУБ.,
169,492
(1962).
34.
G 1 i
с
k
А.
J.,
Fifth
Int.
Congr. E1ectron Microscopy,
vo1.
1,
АА-8,
New
York,
1962.
35.
S 1
а
t
е
r
J.
С.,
Phys.
Rev.,
51, 840 (1937).
36.
Н
е
i d
е
n r
е
i
с
h R.
D.,
Journ.
Appl.
Phys.,
33, 2321 (1962).
37*.Д
ж
е
й
м
с
А.,
Оптические
принципы
дифракции
рентгеновских
лучей,
М.,
1950,
СТр.
355.
З8*.Л
а
н
Д
с
б
е
р
г Г.
С.,
Оптика,
М.
1947,
стр.
198.